[发明专利]基于4点识别的精确校验工业拾取方法、系统及智能终端

权利要求书

1.一种基于4点识别的精确校验工业拾取方法，其特征在于，包括：

根据物料盘上预设的测试点位，通过识别系统识别并得到物料盘上预设的目标点的识别坐标；获取每个所述测试点位的测试坐标，并根据所述测试坐标得到推算参数；所述推算参数包括点位间距和总点数；

根据所述推算参数和所述测试坐标，计算得到所述目标点的推算坐标；

根据所述识别坐标和所述推算坐标，获取所述目标点的补偿值；

获取所述物料盘上其他待测点位的初始坐标；

根据所述补偿值调整所述物料盘上每一个所述待测点位的初始坐标。

2.根据权利要求1所述的一种基于4点识别的精确校验工业拾取方法，其特征在于，所述根据所述测试坐标得到推算参数，包括：

判断测试区间是平面矩形区间或立体区间；

若所述测试区间为所述平面矩形区间，通过所述测试坐标，确定平面坐标轴的起始点坐标和平面方向坐标；所述平面方向坐标为两个；

获取所述平面矩形区间的平面区间信息；所述平面区间信息包括第一方向总点数和第二方向总点数；

根据所述平面区间信息获取所述平面矩形区间的所述总点数；

根据所述起始点坐标、两个所述平面方向坐标和所述平面区间信息，获取相邻待测点位间的所述点位间距。

3.根据权利要求2所述的一种基于4点识别的精确校验工业拾取方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述测试区间为所述立体区间，通过所述测试坐标，确定空间坐标轴的原点坐标和空间方向坐标；所述空间坐标为两个；

获取所述立体区间的立体区间信息；所述立体区间信息包括第一方向总个数、第二方向总个数和高度；

根据所述立体区间信息获取所述立体区间的所述总点数；

根据所述原点坐标、三个所述空间方向坐标和所述立体区间信息，获取相邻待测点位间的所述点位间距。

4.根据权利要求3所述的一种基于4点识别的精确校验工业拾取方法，其特征在于，所述根据所述推算参数和所述测试坐标，计算得到所述目标点的推算坐标，包括：

获取所述目标点所在的目标平面矩形区间；

在所述目标平面矩形区间内，获取所述目标点的第一方向的目标个数和第二方向的目标个数；获取所述目标平面矩形区间的目标起始点坐标；

根据所述目标起始点坐标、所述第一方向的目标个数和第二方向的目标个数，计算得到所述目标点的推算坐标。

5.根据权利要求2所述的一种基于4点识别的精确校验工业拾取方法，其特征在于，所述根据所述补偿值调整所述物料盘上每一个所述待测点位的初始坐标，包括：

获取所述待测点位所在的待测平面矩形区间，并获取所述待测点位在所述待测平面矩形区间的当前所在行和当前所在列；

判断所述物料盘是否与机械手所在的坐标系水平；

若所述物料盘与机械手所在的坐标系水平，将所述补偿值、所述物料盘的所述第一方向总点数、所述第二方向总点数、所述待测点位的所述当前所在行和所述当前所在列代入预设的补偿值计算公式，得到所述待测点位的平行调整补偿值，以调整所述物料盘上每一个所述待测点位的初始坐标；所述补偿值包括第一方向补偿值和第二方向补偿值；所述平行调整补偿值包括第一方向平行调整补偿值和第二方向平行调整补偿值。

6.根据权利要求5所述的一种基于4点识别的精确校验工业拾取方法，其特征在于，所述方法还包括：

若所述物料盘与机械手所在的坐标系倾斜，将所述补偿值、所述物料盘的所述第一方向总个数、所述第二方向总个数、所述第三方向总个数、所述待测点位的所述当前所在行和所述当前所在列代入预设的补偿值计算公式，得到所述待测点位的倾斜调整补偿值，以调整所述物料盘上每一个所述待测点位的初始坐标；所述补偿值包括所述第一方向补偿值、所述第二方向补偿值和第三方向补偿值；所述倾斜调整补偿值包括第一方向倾斜调整补偿值、第二方向倾斜调整补偿值和第三方向倾斜调整补偿值。