[发明专利]光谱仪标定方法、装置、电子设备和存储介质有效
申请号: | 202310301354.9 | 申请日: | 2023-03-24 |
公开(公告)号: | CN116007754B | 公开(公告)日: | 2023-06-02 |
发明(设计)人: | 张炜 | 申请(专利权)人: | 加维纳米(北京)科技有限公司 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28;G06F18/214 |
代理公司: | 深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570 | 代理人: | 苏蕾 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 光谱仪 标定 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
本发明实施例公开了一种光谱仪标定方法、装置、电子设备和存储介质,涉及光谱、成像技术领域,通过获取入射光谱数据,基于拟合模型,确定入射光谱数据的至少一个光谱响应状态以及各光谱响应状态对应的光谱能量数据,对各光谱响应状态对应的光谱能量数据进行信号处理,得到各光谱响应状态对应的重建光谱数据,根据各光谱响应状态对应的重建光谱数据确定目标光谱响应状态,根据目标光谱响应状态对光谱仪进行标定;本发明通过拟合模型、以及对光谱能量数据进行信号处理,在可能的光谱响应状态中,确定光谱仪最优的光谱响应状态,并将光谱仪配置为此状态,可以提高重建后的光谱质量,进而提升光谱仪标定的准确性和鲁棒性。
技术领域
本发明涉及光谱、成像技术领域,具体涉及一种光谱仪标定方法、装置、电子设备和存储介质。
背景技术
计算重建型光谱仪是一种新兴的光谱测量技术,不同于传统色散和选择滤光方式,它基于光谱仪被标定出的光谱响应状态以及光谱仪所探测到的信号,通过解逆矩阵可对入射光谱进行还原重建。但是基于解逆矩阵的光谱重建方法,想实现光谱重建的高精度和鲁棒性,对光谱仪的光谱响应状态提出了较高的设计要求。
发明内容
本发明实施例提供一种光谱仪标定方法、装置、电子设备和存储介质,以增强光谱重建的准确性和鲁棒性。
一方面,本发明实施例提供一种光谱仪标定方法,所述方法包括:
获取入射光谱数据;
基于拟合模型,确定所述入射光谱数据的至少一个光谱响应状态以及各所述光谱响应状态对应的光谱能量数据;
对各所述光谱响应状态对应的光谱能量数据进行信号处理,得到各所述光谱响应状态对应的重建光谱数据;
根据各所述光谱响应状态对应的重建光谱数据,对所述光谱仪进行标定。
在一些实施方式中,所述根据各所述光谱响应状态对应的重建光谱数据,对所述光谱仪进行标定,包括:
将各所述光谱响应状态对应的重建光谱数据与所述入射光谱数据的基准光谱数据进行比对,得到各所述光谱响应状态对应的重建光谱数据的重建误差;
根据所述光谱响应状态对应的重建光谱数据的重建误差,确定具有最小重建误差的目标光谱响应状态;
根据所述目标光谱响应状态所述光谱仪进行标定。
在一些实施方式中,所述基于拟合模型,确定所述入射光谱数据的至少一个光谱响应状态以及各所述光谱响应状态对应的光谱能量数据之前,所述方法还包括:
获取样本数据,所述样本数据包括样本入射光谱数据、基准光谱能量数据、基准光谱响应状态数据;
将所述样本入射光谱数据输入至初始拟合模型进行拟合,得到训练光谱能量数据和训练光谱响应状态数据;
将所述训练光谱能量数据进行信号处理,得到重建后的光谱数据;
根据所述重建后的光谱数据、所述基准入射光谱数据、所述训练光谱能量数据、所述基准光谱能量数据、所述训练光谱响应状态数据、所述基准光谱响应状态数据,得到所述初始拟合模型的生成损失;
根据所述生成损失,对所述初始拟合模型的模型参数进行调整,直至所述初始拟合模型满足预设收敛条件时,得到拟合模型。
在一些实施方式中,所述根据所述重建后的光谱数据、所述基准入射光谱数据、所述训练光谱能量数据、所述基准光谱能量数据、所述训练光谱响应状态数据、所述基准光谱响应状态数据,得到所述初始拟合模型的生成损失,包括:
根据所述训练光谱能量数据、所述基准光谱能量数据、第一鉴别器,得到第一鉴别结果;
根据所述训练光谱响应状态数据、所述基准光谱响应状态数据和第二鉴别器,得到第二鉴别结果;
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