[发明专利]一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统

说明书

本申请提供一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统，自动检测方法应用于嵌入式芯片的自动检测系统中的主控检测模组，主控检测模组与控制模组相连接，主控检测模组与嵌入式芯片相连接，嵌入式芯片安装有运行状态测试程序，方法包括：主控检测模组接收控制模组发送的系统运行状态检测指令，并基于系统运行状态检测指令控制嵌入式芯片运行运行状态测试程序；接收嵌入式芯片发送的运行运行状态测试程序对应的运行结果；基于运行结果判断嵌入式芯片是否发生故障。本申请通过在嵌入式芯片内预先安装有运行状态测试程序，再根据嵌入式芯片能否正常运行运行状态测试程序，以判断嵌入式芯片是否发生故障，从而使嵌入式芯片的可靠性得到保障。

技术领域

本申请涉及检测设备的技术领域，具体涉及一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统。

背景技术

随着科技的发展，基于嵌入式芯片控制的相关电子产品越来越多。

目前，在各种应用嵌入式芯片的电子产品中，芯片内部存储器是否正常直接关系到该电子产品能否正常工作。为了提高嵌入式芯片的良品出货率，对嵌入式芯片的可靠性进行检测是十分必要的。

但是，传统的对嵌入式芯片的检测方法是在烧录嵌入式芯片软件数据后，立即读取芯片内部存储器的软件数据，再将所读取的数据与烧录的数据进行一一对比，用来判断软件数据是否烧录成功。在确定烧录成功之后，再通过使用外部工具检测软件数据在嵌入式芯片上的运行状态以判断嵌入式芯片是否发生故障。但通过外部工具进行检测需要读取软件数据在嵌入式芯片上的运行状态，而在软件数据烧录检测完成后会触发嵌入式芯片的读保护功能，一旦起效，则无法再次进行芯片内部存储器的软件数据读取，从而无法进行数据比对。因此，嵌入式芯片的可靠性得不到保障。

发明内容

本申请提供一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统。本申请通过在嵌入式芯片内预先安装有运行状态测试程序，再根据嵌入式芯片能否正常运行运行状态测试程序，以判断嵌入式芯片是否发生故障，从而使嵌入式芯片的可靠性得到保障。

在本申请的第一方面提供了一种嵌入式芯片的自动检测方法，应用于嵌入式芯片的自动检测系统中的主控检测模组，所述自动检测系统还包括控制模组，所述主控检测模组与所述控制模组相连接，所述主控检测模组与所述嵌入式芯片相连接，所述嵌入式芯片安装有运行状态测试程序，所述方法包括：

接收所述控制模组发送的系统运行状态检测指令，并基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片运行所述运行状态测试程序；

接收所述嵌入式芯片发送的运行所述运行状态测试程序对应的运行结果；

基于所述运行结果判断所述嵌入式芯片是否发生故障。

通过采用上述技术方案，通过在嵌入式芯片内预先安装运行状测试程序，控制模组向主控检测模组发送系统运行状态检测指令，使主控检测模组控制嵌入式芯片运行运行状态测试程序，嵌入式芯片运行运行状态测试程序后生成运行结果，主控检测模组根据运行结果来判断嵌入式芯片是否发生故障，从而便于检测嵌入式芯片是否发生故障，使得嵌入式芯片的可靠性得到保障。

可选的，所述基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片运行所述运行状态测试程序，包括：

基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片运行所述运行状态测试程序，以使所述嵌入式芯片获取运行所述运行状态测试程序后生成的第一特征信息，以使所述嵌入式芯片将所述第一特征信息与运行所述运行状态测试程序前写入的第二特征信息进行比对；

所述基于所述运行结果判断所述嵌入式芯片是否发生故障，包括：

若所述运行结果指示所述第一特征信息与所述第二特征信息一致，则确定所述嵌入式芯片未发生故障；

若所述运行结果指示所述第一特征信息与所述第二特征信息不一致，则确定所述嵌入式芯片发生故障。