[发明专利]一种嵌入式芯片的自动检测方法及系统

权利要求书

1.一种嵌入式芯片的自动检测方法，其特征在于，应用于嵌入式芯片的自动检测系统中的主控检测模组(11)，所述自动检测系统还包括控制模组(12)，所述主控检测模组(11)与所述控制模组(12)相连接，所述主控检测模组(11)与所述嵌入式芯片(14)相连接，所述嵌入式芯片(14)安装有运行状态测试程序，所述方法包括：

接收所述控制模组(12)发送的系统运行状态检测指令，并基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片(14)运行所述运行状态测试程序；

接收所述嵌入式芯片(14)发送的运行所述运行状态测试程序对应的运行结果；

基于所述运行结果判断所述嵌入式芯片(14)是否发生故障。

2.根据权利要求1所述的嵌入式芯片的自动检测方法，其特征在于，所述基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片(14)运行所述运行状态测试程序，包括：

基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片(14)运行所述运行状态测试程序，以使所述嵌入式芯片(14)获取运行所述运行状态测试程序后生成的第一特征信息，以使所述嵌入式芯片(14)将所述第一特征信息与运行所述运行状态测试程序前写入的第二特征信息进行比对；

所述基于所述运行结果判断所述嵌入式芯片(14)是否发生故障，包括：

若所述运行结果指示所述第一特征信息与所述第二特征信息一致，则确定所述嵌入式芯片(14)未发生故障；

若所述运行结果指示所述第一特征信息与所述第二特征信息不一致，则确定所述嵌入式芯片(14)发生故障。

3.根据权利要求1所述的嵌入式芯片的自动检测方法，其特征在于，所述方法还包括：

若在预设第一时间段内未接收到所述嵌入式芯片(14)发送的所述运行结果，则确定所述嵌入式芯片(14)发生故障。

4.根据权利要求1所述的嵌入式芯片的自动检测方法，其特征在于，所述自动检测系统还包括显示模组(13)，所述显示模组(13)与所述主控检测模组(11)相连接，所述基于所述运行结果判断所述嵌入式芯片(14)是否发生故障之后，还包括：

获取所述嵌入式芯片(14)的故障结果，向所述显示模组(13)发送所述故障结果，以使所述显示模组(13)显示所述故障结果。

5.根据权利要求2所述的嵌入式芯片的自动检测方法，其特征在于，所述第一特征信息包括运行所述运行状态测试程序后的日期信息和运行所述运行状态测试程序后的CRC32校验信息，所述第二特征信息包括运行所述运行状态测试程序前写入的日期信息和运行所述运行状态测试程序前写入的CRC32校验信息。

6.一种嵌入式芯片的自动检测系统，其特征在于，所述自动检测系统包括控制模组(12)和主控检测模组(11)，其中，所述控制模组(12)与所述主控检测模组(11)相连接，所述控制模组(12)用于发送系统运行状态检测指令，并基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片(14)运行所述运行状态测试程序；所述主控检测模组(11)与所述控制模组(12)相连接，所述主控检测模组(11)与所述嵌入式芯片(14)相连接，

所述主控检测模组(11)，用于接收所述控制模组(12)发送的系统运行状态检测指令，并基于所述系统运行状态检测指令控制所述嵌入式芯片(14)运行所述运行状态测试程序；

所述主控检测模组(11)，还用于接收所述嵌入式芯片(14)发送的运行所述运行状态测试程序对应的运行结果；

所述主控检测模组(11)，还用于基于所述运行结果判断所述嵌入式芯片(14)是否发生故障。