[发明专利]一种存储控制器主板上下电测试装置、存储设备及服务器

说明书

本发明公开了一种存储控制器主板上下电测试装置、存储设备及服务器，涉及存储控制器领域，通过计时模块、控制模块和第一可控开关相配合，当存储控制器主板开始上电，计时模块随之开始计时，经过第一预设时间后停止计时并向控制模块的输入端发送第一控制信号，以使控制模块控制第一可控开关关断，存储控制器主板进入下电状态；经过第二预设时长后，控制模块控制第一可控开关导通，存储控制器主板进入上电状态，此时计时模块再次开始新一轮的计时，以此实现对存储控制器主板的上下电测试，无需准备专用的上下电测试设备，成本较低，且不需要搭建测试环境，方便快捷，测试效率高。

技术领域

本发明涉及存储控制器领域，特别是涉及一种存储控制器主板上下电测试装置、存储设备及服务器。

背景技术

随着科技的进步，现代社会对于存储控制器的需求量也日益增加。为了保证存储控制器的可靠性和稳定性，需要对存储控制器主板进行各项严格的测试，反复上下电测试是一种常用的测试手段。

现有技术中，需要准备专用的上下电测试设备，并需要根据不同的测试系统搭建不同的测试环境，以此实现对存储控制器主板的上下电测试进行测试，购置专用的上下电测试设备的成本比较高，测试环境的搭建也需要耗费额外的时间且步骤较为繁琐。

发明内容

本发明的目的是提供一种存储控制器主板上下电测试装置、存储设备及服务器，通过计时模块、控制模块和第一可控开关相配合，当存储控制器主板开始上电，计时模块随之开始计时，经过第一预设时间后停止计时并向控制模块的输入端发送第一控制信号，以使控制模块控制第一可控开关关断，存储控制器主板进入下电状态；经过第二预设时长后，控制模块控制第一可控开关导通，存储控制器主板进入上电状态，此时计时模块再次开始新一轮的计时，以此实现对存储控制器主板的上下电测试，无需准备专用的上下电测试设备，成本较低，且不需要搭建测试环境，方便快捷，测试效率高。

为解决上述技术问题，本发明提供了一种存储控制器主板上下电测试装置，包括：

计时模块，与控制模块的输入端连接，用于在存储控制器主板上电时开始计时，经过第一预设时间后停止计时并向所述控制模块的输入端发送第一控制信号；

所述控制模块，供电端与供电电源连接，输出端与第一可控开关的控制端连接，用于当接收到所述第一控制信号后，控制所述第一可控开关关断，当所述第一可控开关关断的时长达到第二预设时间后，控制所述第一可控开关导通；

所述第一可控开关，第一端与所述供电电源连接，第二端与所述存储控制器主板的输入端连接。

优选地，所述控制模块包括：

延时模块，第一端分别与所述供电电源和所述第一可控开关的第一端连接，第二端与控制芯片的第二触发端连接，用于在所述第一可控开关关断的时长达到所述第二预设时间后，向所述控制芯片的第二触发端发送第二控制信号；

所述控制芯片，供电端与所述供电电源连接，第一触发端与所述计时模块连接，输出端与所述第一可控开关的控制端连接，用于当所述第一触发端接收到所述第一控制信号后，控制所述第一可控开关关断，当所述第二触发端接收到所述第二控制信号后，控制所述第一可控开关导通。

优选地，所述延时模块包括：

延时电容，第一端分别与所述控制芯片的第二触发端、第一电阻的第一端和所述控制芯片的放电端连接，第二端接地，用于在自身的充电电压达到预设电压时，触发所述控制芯片控制所述第一可控开关导通，并对所述延时电容进行放电；

所述第一电阻，第二端分别与所述供电电源和所述第一可控开关的第一端连接。

优选地，所述第一可控开关为PMOS管，所述PMOS管的栅极作为所述第一可控开关的控制端，所述PMOS管的源极作为所述第一可控开关的第一端，所述PMOS管的漏极作为所述第一可控开关的第二端。

优选地，还包括：