[发明专利]一种存储控制器主板上下电测试装置、存储设备及服务器

权利要求书

1.一种存储控制器主板上下电测试装置，其特征在于，包括：

计时模块，与控制模块的输入端连接，用于在存储控制器主板上电时开始计时，经过第一预设时间后停止计时并向所述控制模块的输入端发送第一控制信号；

所述控制模块，供电端与供电电源连接，输出端与第一可控开关的控制端连接，用于当接收到所述第一控制信号后，控制所述第一可控开关关断，当所述第一可控开关关断的时长达到第二预设时间后，控制所述第一可控开关导通；

所述第一可控开关，第一端与所述供电电源连接，第二端与所述存储控制器主板的输入端连接。

2.如权利要求1所述的存储控制器主板上下电测试装置，其特征在于，所述控制模块包括：

延时模块，第一端分别与所述供电电源和所述第一可控开关的第一端连接，第二端与控制芯片的第二触发端连接，用于在所述第一可控开关关断的时长达到所述第二预设时间后，向所述控制芯片的第二触发端发送第二控制信号；

所述控制芯片，供电端与所述供电电源连接，第一触发端与所述计时模块连接，输出端与所述第一可控开关的控制端连接，用于当所述第一触发端接收到所述第一控制信号后，控制所述第一可控开关关断，当所述第二触发端接收到所述第二控制信号后，控制所述第一可控开关导通。

3.如权利要求2所述的存储控制器主板上下电测试装置，其特征在于，所述延时模块包括：

延时电容，第一端分别与所述控制芯片的第二触发端、第一电阻的第一端和所述控制芯片的放电端连接，第二端接地，用于在自身的充电电压达到预设电压时，触发所述控制芯片控制所述第一可控开关导通，并对所述延时电容进行放电；

所述第一电阻，第二端分别与所述供电电源和所述第一可控开关的第一端连接。

4.如权利要求1所述的存储控制器主板上下电测试装置，其特征在于，所述第一可控开关为PMOS管，所述PMOS管的栅极作为所述第一可控开关的控制端，所述PMOS管的源极作为所述第一可控开关的第一端，所述PMOS管的漏极作为所述第一可控开关的第二端。

5.如权利要求1所述的存储控制器主板上下电测试装置，其特征在于，还包括：

DCDC转换模块，输入端与所述第一可控开关的第一端连接，输出端与所述存储控制器主板的输入端连接，用于将所述供电电源的输出电压转换成所述存储控制器主板所需的供电电压。

6.如权利要求1至5任一项所述的存储控制器主板上下电测试装置，其特征在于，所述计时模块包括：

计时器，用于在所述存储控制器主板上电后开始计时，经过所述第一预设时间后停止计时并控制第二可控开关导通，触发所述控制模块控制所述第一可控开关关断；

所述第二可控开关，第一端分别与所述控制模块的输入端和第二电阻的第一端连接，第二端接地，控制端与所述计时器的输出端连接；

所述第二电阻，第二端分别与所述供电电源和所述第一可控开关的第一端连接。

7.如权利要求6所述的存储控制器主板上下电测试装置，其特征在于，所述计时器为构成所述存储控制器主板上的CPLD的计时器。

8.如权利要求6所述的存储控制器主板上下电测试装置，其特征在于，所述第二可控开关为NPN型三极管，所述NPN型三极管的基极作为所述第二可控开关的控制端，所述NPN型三极管的集电极作为所述第二可控开关的第一端，所述NPN型三极管的发射极作为所述第二可控开关的第二端。

9.一种存储设备，其特征在于，包括存储控制器、存储控制器主板及如权利要求1至8任一项所述的存储控制器主板上下电测试装置，所述存储控制器主板分别与所述存储控制器主板上下电测试装置及所述存储控制器连接。

10.一种服务器，其特征在于，包括如权利要求9所述的存储设备。