[发明专利]一种精密零件测量检测平台及其测量检测方法在审
申请号: | 202310161046.0 | 申请日: | 2023-02-24 |
公开(公告)号: | CN115876094A | 公开(公告)日: | 2023-03-31 |
发明(设计)人: | 茅爱峰;史滔远 | 申请(专利权)人: | 昆山纳博旺精工科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B5/06;G01B5/28 |
代理公司: | 苏州佳捷天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 32516 | 代理人: | 石俊飞 |
地址: | 215000 江苏省苏州市昆山市玉山镇*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 零件 测量 检测 平台 及其 方法 | ||
1.一种精密零件测量检测平台,包括机架(1),所述机架(1)上安装有大理石底板(2),其特征在于:所述大理石底板(2)上设置有XYZ轴运动模组(3),所述大理石底板(2)上位于XYZ轴运动模组(3)的下方设置有第一Y轴运动组件(4),所述大理石底板(2)上设置有用于对工件进行定位的定位块(6),所述第一Y轴运动组件(4)的输出端上固定有定位尺(8),所述定位尺(8)可抵持在工件远离定位块(6)的一端,以对工件进行长度测量,所述大理石底板(2)上沿定位尺(8)的运动方向设置有光栅尺(11),所述定位尺(8)上设置有用于配合光栅尺(11)进行读数的读数头(10),所述大理石底板(2)上设置有显示装置(12),所述读数头(10)与显示装置(12)电性连接,所述XYZ轴运动模组(3)的输出端上设置有千分表(7),所述大理石底板(2)上可拆卸连接有标定块(9),所述标定块(9)用于配合千分表(7)对工件进行高度测量或平面度检测,所述标定块(9)为一阶梯状构件,所述标定块(9)的各阶梯对应不同的标准高度。
2.根据权利要求1所述的精密零件测量检测平台,其特征在于:所述XYZ轴运动模组(3)包括分别固定在大理石底板(2)顶部两端的X轴运动组件(31)、固定连接于两个X轴运动组件(31)的输出端之间的第二Y轴运动组件(32)以及固定在第二Y轴运动组件(32)上的Z轴运动组件(33),所述千分表(7)设置在Z轴运动组件(33)的输出端上,所述X轴运动组件(31)、第一Y轴运动组件(4)、第二Y轴运动组件(32)和Z轴运动组件(33)均包括支座(13)、固定在支座(13)上的导轨(14)以及滑动连接在导轨(14)上的滑块(15),所述滑块(15)即为所述输出端,所述滑块(15)上设置有可将滑块(15)锁紧在导轨(14)上的钳制器(16)。
3.根据权利要求2所述的精密零件测量检测平台,其特征在于:所述支座(13)上位于导轨(14)的两端分别固定有限位块(17),两个所述限位块(17)的相对位置分别设置有缓冲垫(18)。
4.根据权利要求1所述的精密零件测量检测平台,其特征在于:所述大理石底板(2)上固定有转接板(5),所述定位块(6)通过螺栓固定在转接板(5)上,所述定位块(6)与大理石底板(2)之间具有间隙,所述定位块(6)包括一体成型的X向靠肩(61)和Y向靠肩(62),所述X向靠肩(61)和Y向靠肩(62)相互垂直,所述X向靠肩(61)和Y向靠肩(62)之间的拐角处设置有弧形槽(63),所述X向靠肩(61)的端部边缘和Y向靠肩(62)的端部边缘分别圆弧过渡。
5.根据权利要求1所述的精密零件测量检测平台,其特征在于:所述标定块(9)的各阶梯上分别设置有相应的标准高度标识(91),所述标定块(9)的各阶梯的上端面均为光滑平面。
6.根据权利要求1所述的精密零件测量检测平台,其特征在于:所述机架(1)的底部分别设置有脚轮(19)和脚杯(20)。
7.一种测量检测方法,其特征在于:包括如权利要求1-6任意一项所述的精密零件测量检测平台,还包括如下步骤:
对工件进行长度测量时,将工件放置在大理石底板(2)上,并使得工件的一端抵持于定位块(6);
推动定位尺(8)沿Y轴方向滑动,使得定位尺(8)抵持在工件的另一端,读数头(10)读取光栅尺(11)上的位置信息,并将所述位置信息传递给显示装置(12),显示装置(12)将所述位置信息转换成工件的长度数值并显示给用户;
对工件进行高度测量时,通过肉眼观测并选取标定块(9)上与工件最接近的阶梯的标准高度作为第一高度;
若观测到工件的高度高于第一高度,则把第一高度位置的阶梯的上端面作为基准面,滑动千分表(7),使得千分表(7)的测头与第一高度位置的阶梯的上端面接触,接着将千分表(7)的Z轴方向的自由度锁定,接着将千分表(7)的示数清零,接着将测头上提并释放,重复多次后检查测头是否仍与第一高度位置的阶梯的上端面接触,并检查千分表(7)的示数是否仍归零,检查合格后将测头上提并将测头移动至工件的上方后释放,测头与工件接触,此时千分表(7)上显示的读数即为工件与第一高度之间的高度差,将所述高度差与所述第一高度求和,得到工件的实测高度;
若观测到工件的高度低于第一高度,则把工件作为基准面,对千分表(7)进行示数清零,测出工件与第一高度之间的高度差后,将所述高度差和所述第一高度求差,得到工件的实测高度;
对工件进行平面度检测时,可通过千分表(7)在工件的待测面进行多点取样,以获得平面度计算过程中所需的数值。
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