[发明专利]一种用于电火花加工的电极批量分中方法、装置及存储介质

权利要求书

1.一种用于电火花加工的电极批量分中方法，其特征在于，包括：

通过人机交互界面，响应于用户对电极系统的图形的操作，选取所述电极系统表面的M个检测点，M为大于或等于5的正整数，所述电极系统为电火花加工机床中的任一电极系统；

确定所述M个检测点的坐标；

根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标；

向电火花加工机床发送所述理论分中坐标，所述理论分中坐标用于所述电火花加工机床，并配合电火花加工电极系统的实际分中坐标进行电火花放电操作。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述电极系统包括N个电极和N个电极基准台，N为大于等于1的正整数，所述电极和所述电极基准台相对应并互相配合进行电火花放电操作。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述选取所述电极系统表面的M个检测点包括：

在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面及在所述电极的梯面分别选取检测点，得到M个检测点。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述选取所述电极系统表面的M个检测点包括：

判断所述电极是否为规则凸面体；

在所述电极为规则凸面体的情况下，在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面及在所述电极的梯面分别任意选取检测点，得到M个检测点。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述选取所述电极系统表面的M个检测点包括：

判断所述电极是否为规则凸面体；

在所述电极不是规则凸面体的情况下，在所述电极基准台的正面、背面、左侧面、右侧面分别任意选取检测点及在所述电极的梯面突出的表面选取检测点，得到M个检测点。

6.根据权利要求1-4任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

显示所述理论分中坐标；

响应于用户针对所述理论分中坐标的调整指令，执行所述响应于用户对所述电极系统的图形的操作，选取所述电极系统的表面的M个检测点，确定所述M个检测点的坐标，根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标的步骤。

7.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述电极系统的理论分中坐标包括X轴坐标、Y轴坐标和Z轴坐标，所述根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标包括：

将第一检测点和第二检测点的X轴坐标的和的平均值确定为所述电极系统的理论分中坐标的X轴坐标，所述第一检测点为所述M个检测点中位于所述电极基准台正面的一个检测点，所述第二检测点为所述M个检测点中位于电极基准台背面的一个检测点；

将第三检测点和第四检测点的Y轴坐标的和的平均值确定为所述电极系统的理论分中坐标的Y轴坐标，所述第三检测点为所述M个检测点中位于所述电极基准台左侧面的一个检测点，所述第四检测点为所述M个检测点中位于所述电极基准台右侧面的一个检测点；

将所述M个检测点中位于所述电极梯面的检测点的Z轴坐标及第一高度的和的一半确定为所述电极系统的理论分中坐标的Z轴坐标，所述第一高度为所述电极距离电火花放电工件的放电位置的安全高度。

8.一种用于电火花加工的电极批量分中装置，其特征在于，包括：

检测点选取模块，通过人机交互界面，响应于用户对电极系统的图形的操作，选取所述电极系统表面的M个检测点，M为大于或等于5的正整数，所述电极系统为电火花加工机床中的任一电极系统；

坐标记录模块，用于确定所述M个检测点的坐标；

理论分中坐标计算模块，用于根据所述M个检测点的坐标计算所述电极系统的理论分中坐标；

理论分中坐标导入模块，向电火花加工机床发送所述理论分中坐标，所述理论分中坐标用于所述电火花加工机床，并配合电火花加工电极系统的实际分中坐标进行电火花放电操作。