[发明专利]一种二维IGZO纳米片材料及其制备方法在审
申请号: | 202310055394.X | 申请日: | 2023-01-18 |
公开(公告)号: | CN116022840A | 公开(公告)日: | 2023-04-28 |
发明(设计)人: | 肖涵;孙俊峰;马燕;陈韦宁 | 申请(专利权)人: | 宁波圆芯电子有限公司;睿芯(大连)股份有限公司 |
主分类号: | C01G15/00 | 分类号: | C01G15/00 |
代理公司: | 大连东方专利代理有限责任公司 21212 | 代理人: | 周媛媛;李馨 |
地址: | 315000 浙江省宁波市鄞*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 二维 igzo 纳米 材料 及其 制备 方法 | ||
本发明公开了一种二维片层状IGZO半导体材料及其制备方法。具体制备方法为采用溶胶凝胶法将铟盐,镓盐,锌盐分别在水中搅拌溶解,混合均匀后,加入碱性添加剂使三种盐产生共沉淀,添加搅拌稳定后的pH为4~9。在烘箱中热处理进行反应获得IGZO前驱体,洗涤干燥获得前驱体粉末,将粉末在800‑1300℃下高温烧结成IGZO纳米片。本发明获得的IGZO纳米片直径为100nm~5μm,片层厚度100nm,纳米片可分散于适合溶剂,如二甲基亚砜,N‑甲基吡咯烷酮,乙二醇等溶剂中,经加工后可用于印刷/喷墨打印用n型半导体制备或薄膜半导体功能模块的生产。
技术领域
本发明涉及材料制备方法,具体涉及一种二维片层状IGZO半导体材料及其制备方法。
背景技术
铟镓锌氧化物(indiumgallium zinc oxide,IGZO)是由In2O3、Ga2O3和ZnO三种化合物按不同的配比组合而成的n型半导体金属氧化物。具有高迁移率、低关态电流、宽带隙(~3.5eV)等优点,是制备柔性电子产品的理想半导体材料。通过在柔性基底上附着一层IGZO是进一步加工柔性电子器件,如薄膜晶体管,反相器等器件的重要环节。制备IGZO薄膜的方法有很多,主要有磁控溅射法、脉冲激光沉积法、溶胶-凝胶法、化学气相沉积法、原子层沉积法、脉冲直流磁控溅射法等。其中沉积,溅射等方法由于成本较高,目前仅在制备显示设备中采用溅射、气相沉积IGZO的方式制备。溶胶-凝胶法需要低温反应以适应有机物薄膜衬底不耐高温的特性,目前仍处于实验室阶段。近年来,通过先制备纳米级IGZO,再将IGZO分散至溶剂体系中,配制成可印刷,可打印的墨水方式由于其具备高速生产,低成本的优势近年来受到广泛关注。如华星光电通过喷墨打印生产出的OLED-TFT,可降低生产成本(CN201710777726.XOLED-TFT基板及其制造方法、显示面板),喷墨打印技术形成OLED的有机发射图案,可以省去一道黄光制程。但由于显示面板层数较多,不同环节仍需要采用不同工艺流程。其制备IGZO半导体层的工序依然使用化学气相沉积法,效率较低。
Gyoujin Cho等人通过溶胶凝胶法,烧结后球磨,离心的方法获得了纳米IGZO颗粒(Adv.Electron.Mater.2018,1800078),上述工作均展现出了通过纳米级IGZO配制成墨水,再进一步加工IGZO薄膜的可能性。然而由于颗粒团聚,颗粒尺寸不均匀等问题,导致需要在配制墨水前期引入超声,球磨,离心等工序,产率不高;并且由于团聚,尺寸不均匀等问题,在配制墨水过程中需要添加分散剂,导致最终IGZO薄膜性能下降的问题。
发明内容
由于现有技术中的团聚、尺寸不均匀等问题,导致在配制墨水过程中需要添加分散剂,使最终IGZO薄膜性能下降,为解决上述技术问题:
本发明提供一种二维片状IGZO纳米片,所述IGZO纳米片为二维结构,所述纳米片直径为100nm~5μm,厚度为<100nm。优选地,纳米片直径为100nm~2μm,厚度为<80nm;更优选地,纳米片直径为100nm~1μm,厚度为<50nm。
本发明又提供一种二维片状IGZO纳米片的制备方法,包括以下步骤:
(1)将铟盐,镓盐,锌盐分别加入溶剂中,形成金属盐溶液;
(2)将(1)中所述的三种金属盐溶液混合均匀后,向其中添加碱性添加剂;
(3)将步骤(3)得到的溶液放入烘箱中进行热处理,得到IGZO前驱体溶液,所述热处理温度为60-130℃;
(4)洗涤、干燥,得到IGZO前驱体粉末;
(5)将步骤(4)得到的IGZO前驱体粉末进行烧结,得到IGZO纳米片,所述烧结温度为800-1300℃。
进一步地,在上述技术方案中,步骤(1)中,所述溶剂为水;所述铟盐为水溶性铟盐;所述镓盐为水溶性镓盐;所述锌盐为水溶性锌盐。
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