[发明专利]用于快速验证地址压缩功能的方法

权利要求书

1.一种用于快速验证地址压缩功能的方法，其特征在于，包括换算出压缩后地址的所有预期值步骤S1、实际的压缩结果测试步骤S2和比较步骤S3：其中，

所述步骤S1具体包括：

步骤S11：将ATE测试平台与待测存储芯片连接，将压缩前的地址bit数组设为A{a0,a1,a2,…,an}；其中，设定写入压缩前的原始地址的数据为从0开始递增的值，n大于等于0；

步骤S12：设定压缩地址bit位的规则，即根据地址bit数组A{a0,a1,a2,…,an}所需要保留下的地址bit位数组设为B{b0,b1,b2,…,bm}；其中，nm；

步骤S13：将地址bit数组A{a0,a1,a2,…,an}与压缩后保留的bit位数组B{b0,b1,b2,…,bm}做差，得到被压缩掉的地址bit数组为C{c0,c1,c2,…,ck}；其中，nk；

步骤S14：压缩后的地址bit数据换算到压缩前对应的bit位的值，如压缩后地址位T即对压缩后保留的bit位数组B{b0,b1,b2,…,bm}值进行2的幂次运算，即T＝(H％2)*2^{^}b0+(H％4％2)*2^{^}b1+…

步骤S15：对被压缩掉的数据位换算到压缩前，并取最大值的操作，即P＝1*2^{^}c0+1*2^{^}c1+…+1*2^{^}ck；

步骤S16：压缩后的某地址预期值为压缩保留bit换算到压缩前数据与被压缩掉的bit为换算到压缩前的均取1的和；即M＝T+P；

步骤S17：根据S11-S16步骤即可换算出压缩后地址的所有预期值；

在所述步骤S2中，ATE测试平台发出指令对所述待测存储芯片进行实际的压缩结果测试；

所述步骤S3包括将步骤S17换算出压缩后地址的所有预期值并与所述步骤S2中得到的实际的压缩结果进行比较，最终判断所述待测存储芯片的压缩功能是否完备。

2.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，N＝8bit地址长度，所述压缩前的地址bit数组A{a0,a1,a2,…,an}为一维地址，为A{0，1，2，3，4，5，6，7}，即总共地址为256个，从0—255地址对应的原数据为0-255的递增。

3.根据权利要求1所述的测试方法，其特征在于，所述m＝k。