[发明专利]一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置

说明书

本发明涉及霍尔传感器技术领域，尤其涉及一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法，该方法包括：在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后，获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，其中，所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值；根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值；根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值。该方法对集成霍尔传感器芯片的噪声进行集成测量，精准地测定噪声干扰，提高噪声测量的精确度，还能将芯片的滞回值设定较小，使具有该芯片的电机能在更小的磁场变化下正常运行。

技术领域

本发明涉及霍尔传感器技术领域，尤其涉及一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置。

背景技术

如今，由于霍尔传感器利用霍尔效应识别各种数据，集成霍尔传感器芯片应用范围十分广泛，可用于检测温度、压力、位置、流量等数据。集成霍尔传感器芯片的输出阻抗大多都比较高，这就导致其输出信号衰减得厉害，芯片的输出信号容易被噪声信号所淹没。所以，噪声的存在就影响着集成霍尔传感器芯片的精度和分辨率。

关于集成霍尔传感器芯片的噪声测量，工业上一般采用外部的分离仪器进行测量，对芯片内部集成的噪声水平进行间接估算。现有集成霍尔传感器芯片内的噪声测量方法存在测定噪声干扰的精确度较低的问题。

发明内容

本申请实施例通过提供一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置，解决了现有技术中集成霍尔传感器芯片内的测定噪声干扰的精确度较低的技术问题，实现了对集成霍尔传感器芯片的噪声进行集成测量，精准地测定噪声干扰，提高噪声测量的精确度，还能将芯片的滞回值设定较小，使具有该芯片的电机能在更小的磁场变化下正常运行等技术效果。

第一方面，本发明实施例提供一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法，包括：

在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后，获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，其中，所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值；

根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值；

根据所述噪声值，确定所述霍尔信号的噪声滞回值。

优选的，所述获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值，包括：

针对所述多个霍尔信号周期值中的每个霍尔信号周期值，在控制所述集成霍尔传感器芯片的斩波放大电路的偏置参数从第一目标偏置参数逐渐增大的过程中和从第二目标偏置参数逐渐减小的过程中，获取第一目标值和第二目标值，其中，所述第二目标偏置参数大于所述第一目标偏置参数，所述偏置参数包括偏置电压或偏置电流；

根据所述第一目标值和所述第二目标值，得到所述霍尔信号周期值；

在所述每个霍尔信号周期值均执行上述操作之后，得到所述多个霍尔信号周期值。

优选的，获取所述第一目标值，包括：

在控制所述偏置参数从所述第一目标偏置参数逐渐增大的过程中，获得所述霍尔信号在下沿翻转时对应的偏置参数，并将所述霍尔信号在下沿翻转时对应的偏置参数确定为第一目标值。

优选的，获取所述第二目标值，包括：

在控制所述偏置参数从所述第二目标偏置参数逐渐减小的过程中，获得所述霍尔信号在上沿翻转时对应的偏置参数，并将所述霍尔信号在上沿翻转时对应的偏置参数第二目标值。

优选的，所述根据所述多个霍尔信号周期值，得到所述霍尔信号的噪声值，包括：

通过方差分析法或均值极差法，对所述多个霍尔信号周期值进行处理，得到所述噪声值。