[发明专利]一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法及装置在审
| 申请号: | 202310027731.4 | 申请日: | 2023-01-09 |
| 公开(公告)号: | CN116295579A | 公开(公告)日: | 2023-06-23 |
| 发明(设计)人: | 杜凯;杨承晋;刘涛 | 申请(专利权)人: | 深圳市森国科科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
| 代理公司: | 深圳砾智知识产权代理事务所(普通合伙) 44722 | 代理人: | 张合成 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市南山区粤海*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 集成 霍尔 传感器 芯片 噪声 测试 方法 装置 | ||
1.一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试方法,其特征在于,包括:
在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后,获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值,其中,所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值;
根据所述多个霍尔信号周期值,得到所述霍尔信号的噪声值;
根据所述噪声值,确定所述霍尔信号的噪声滞回值。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值,包括:
针对所述多个霍尔信号周期值中的每个霍尔信号周期值,在控制所述集成霍尔传感器芯片的斩波放大电路的偏置参数从第一目标偏置参数逐渐增大的过程中和从第二目标偏置参数逐渐减小的过程中,获取第一目标值和第二目标值,其中,所述第二目标偏置参数大于所述第一目标偏置参数,所述偏置参数包括偏置电压或偏置电流;
根据所述第一目标值和所述第二目标值,得到所述霍尔信号周期值;
在所述每个霍尔信号周期值均执行上述操作之后,得到所述多个霍尔信号周期值。
3.如权利要求2所述的方法,其特征在于,获取所述第一目标值,包括:
在控制所述偏置参数从所述第一目标偏置参数逐渐增大的过程中,获得所述霍尔信号在下沿翻转时对应的偏置参数,并将所述霍尔信号在下沿翻转时对应的偏置参数确定为第一目标值。
4.如权利要求2所述的方法,其特征在于,获取所述第二目标值,包括:
在控制所述偏置参数从所述第二目标偏置参数逐渐减小的过程中,获得所述霍尔信号在上沿翻转时对应的偏置参数,并将所述霍尔信号在上沿翻转时对应的偏置参数第二目标值。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述多个霍尔信号周期值,得到所述霍尔信号的噪声值,包括:
通过方差分析法或均值极差法,对所述多个霍尔信号周期值进行处理,得到所述噪声值。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所述噪声值,确定所述霍尔信号的噪声滞回值,包括:
将所述噪声值与所述霍尔信号的第一历史输出电压作和运算,得到第一目标翻转电压,其中,所述噪声滞回值包括所述第一目标翻转电压。
7.如权利要求6所述的方法,其特征在于,所述根据所述噪声值,确定所述霍尔信号的噪声滞回值,包括:
将所述噪声值与所述霍尔信号的第二历史输出电压作差运算,得到第二目标翻转电压,其中,所述噪声滞回值包括所述第二目标翻转电压,所述第二目标翻转电压小于所述第一目标翻转电压。
8.一种集成霍尔传感器芯片的噪声的自测试装置,其特征在于,包括:
第一获取模块,用于在控制集成霍尔传感器芯片的电机停止输出之后,获取所述集成霍尔传感器芯片的霍尔元件的多个霍尔信号周期值,其中,所述霍尔信号周期值指为在一个循环周期内霍尔信号的第一目标值和第二目标值的差值;
第二获取模块,用于根据所述多个霍尔信号周期值,得到所述霍尔信号的噪声值;
确定模块,用于根据所述噪声值,确定所述霍尔信号的噪声滞回值。
9.一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,其特征在于,所述处理器执行所述程序时实现如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法步骤。
10.一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序,其特征在于,该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一权利要求所述的方法步骤。
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