[发明专利]半导体极性检测拨码装置

说明书

本申请涉及一种半导体极性检测拨码装置，包括板体，所述板体上设置有测试PCB板，所述测试PCB板上设置有固定冶具，所述测试PCB板上设置有用于对固定冶具上的半导体进行测试的拨码检测机构，所述板体上且位于固定冶具的一侧和另一侧均设置有输送机构，所述板体上且位于两侧输送机构之间设置有移动机构，所述移动机构用于将一侧输送机构上的半导体芯片移动至固定冶具上并将测试完成后的半导体芯片移动至另一侧输送机构上；本申请具有节省人工将半导体依次置于半导体固定冶具上人力的优点。

技术领域

本申请涉及半导体检测设备领域，尤其是涉及一种半导体极性检测拨码装置。

背景技术

半导体芯片：在半导体片材上进行浸蚀，布线，制成的能实现某种功能的半导体器件。不只是硅芯片，常见的还包括砷化镓，锗等半导体材料。

授权公告号为CN215263834U的中国专利公开了一种半导体手动测试验证装置，包括测试PCB板、半导体固定治具、测试针脚、拨码开关、第一测试公共端和第二测试公共端。测试的原理是把半导体的引脚通过测试针脚、测试PCB板上的电路、拨码开关连接到第一测试公共端和第二测试公共端，由于每个测试针脚一边与半导体引脚一一连接，另一边又与两个拨码电路连接，通过控制该两个拨码电路的通断，最终实现半导体引脚与第一测试公共端或第二测试公共端连接，利用测试设备连接第一测试公共端或第二测试公共端，就可检测任意二个引脚的关系。

针对上述中的相关技术，存在以下技术缺陷：当需要对不同的半导体测试时，需要人工将多个半导体依次置于半导体固定冶具上，而采用人工挨个固定的方式，浪费了人力。

发明内容

为了节省人工将半导体依次置于半导体固定冶具上的人力，本申请提供一种半导体极性检测拨码装置。

本申请提供的一种半导体极性检测拨码装置采用如下的技术方案：

一种半导体极性检测拨码装置，包括板体，所述板体上设置有测试PCB板，所述测试PCB板上设置有固定冶具，所述测试PCB板上设置有用于对固定冶具上的半导体进行测试的拨码检测机构，所述板体上且位于固定冶具的一侧和另一侧均设置有输送机构，所述板体上且位于两侧输送机构之间设置有移动机构，所述移动机构用于将一侧输送机构上的半导体芯片移动至固定冶具上并将测试完成后的半导体芯片移动至另一侧输送机构上。

通过采用上述技术方案，通过输送机构可对多个半导体芯片进行依次的输送，采用移动机构的设置可将输送机构上的半导体芯片置于固定冶具内，并且移动机构的设置可将固定冶具内已经测试完毕的芯片置于另一侧输送机构上，从而无需操作人员依次的将半导体芯片置于固定冶具内进行挨个测试，节省了人工将半导体依次置于半导体固定冶具上的人力。

可选的，所述移动机构包括架设在固定冶具和两侧输送机构上方的杆体，所述杆体上沿杆体的长度方向滑动设置有移动板，所述移动板上设置有升降板，所述升降板上设置有用于对半导体芯片取放的取放件，所述杆体上设置有用于带动移动板沿杆体的长度方向移动的驱动机构，所述移动板上设置有用于驱动升降板升降的升降机构。

通过采用上述技术方案，通过驱动机构可带动移动板沿着杆体的长度方向移动，从而使得移动板可带动取放件移动至固定冶具以及两侧输送机构的上方，而升降机构可带动升降板升降，从而使得升降板带动取放件朝向半导体芯片移动，便于取放件对半导体芯片进行取放，提高了对半导体芯片自动取放的取放效果。

可选的，所述杆体上沿杆体的长度方向开设有驱动槽，所述移动板上固定设置有滑动连接在驱动槽内的驱动块，所述驱动机构包括沿驱动槽的长度方向转动设置在驱动槽内的驱动螺杆，所述驱动块套设且螺纹连接在驱动螺杆上，所述杆体的一端固定设置有用于带动驱动螺杆转动的驱动电机。