[发明专利]半导体极性检测拨码装置

权利要求书

1.一种半导体极性检测拨码装置，其特征在于：包括板体(1)，所述板体(1)上设置有测试PCB板(11)，所述测试PCB板(11)上设置有固定冶具(12)，所述测试PCB板(11)上设置有用于对固定冶具(12)上的半导体进行测试的拨码检测机构(13)，所述板体(1)上且位于固定冶具(12)的一侧和另一侧均设置有输送机构，所述板体(1)上且位于两侧输送机构之间设置有移动机构，所述移动机构用于将一侧输送机构上的半导体芯片移动至固定冶具(12)上并将测试完成后的半导体芯片移动至另一侧输送机构上。

2.根据权利要求1所述的半导体极性检测拨码装置，其特征在于：所述移动机构包括架设在固定冶具(12)和两侧输送机构上方的杆体(15)，所述杆体(15)上沿杆体(15)的长度方向滑动设置有移动板(153)，所述移动板(153)上设置有升降板(154)，所述升降板(154)上设置有用于对半导体芯片取放的取放件，所述杆体(15)上设置有用于带动移动板(153)沿杆体(15)的长度方向移动的驱动机构，所述移动板(153)上设置有用于驱动升降板(154)升降的升降机构。

3.根据权利要求2所述的半导体极性检测拨码装置，其特征在于：所述杆体(15)上沿杆体(15)的长度方向开设有驱动槽(16)，所述移动板(153)上固定设置有滑动连接在驱动槽(16)内的驱动块(161)，所述驱动机构包括沿驱动槽(16)的长度方向转动设置在驱动槽(16)内的驱动螺杆(162)，所述驱动块(161)套设且螺纹连接在驱动螺杆(162)上，所述杆体(15)的一端固定设置有用于带动驱动螺杆(162)转动的驱动电机(163)。

4.根据权利要求2所述的半导体极性检测拨码装置，其特征在于：所述升降机构包括固定设置在移动板(153)上的升降电缸(17)，所述升降板(154)固定设置在升降电缸(17)的驱动端上。

5.根据权利要求2所述的半导体极性检测拨码装置，其特征在于：所述升降板(154)上转动设置有转动板(155)，所述转动板(155)上固定设置有穿设且转动连接在升降板(154)上的转动轴(171)，所述转动板(155)通过转动轴(171)转动设置在升降板(154)上，所述取放件设置在转动板(155)背离升降板(154)的面上，所述升降板(154)上设置有用于驱动转动板(155)带动取放件转动的转动机构。

6.根据权利要求5所述的半导体极性检测拨码装置，其特征在于：所述转动机构包括第一齿轮(172)、第二齿轮(173)和转动电机(174)，所述第一齿轮(172)套设且固定连接在转动轴(171)上，所述第二齿轮(173)固定设置在转动电机(174)的驱动端上且与第一齿轮(172)啮合，所述转动电机(174)固定设置在升降板(154)上。

7.根据权利要求3所述的半导体极性检测拨码装置，其特征在于：所述驱动块(161)位于驱动槽(16)外的面上设置有调节杆(152)，所述调节杆(152)的长度方向沿垂直于杆体(15)的长度方向设置，所述驱动块(161)固定设置在所述调节杆(152)上，所述移动板(153)沿调节杆(152)的长度方向滑动设置在所述调节杆(152)上，所述调节杆(152)上设置有用于驱动移动板(153)沿调节杆(152)的长度方向移动的调节机构。

8.根据权利要求7所述的半导体极性检测拨码装置，其特征在于：所述调节杆(152)上沿调节杆(152)的长度方向开设有调节槽(164)，所述移动板(153)上固定设置有滑动连接在调节槽(164)内的调节块(165)，所述调节机构包括沿调节槽(164)的长度方向转动设置在调节槽(164)内的调节螺杆(166)，所述调节块(165)套设且螺纹连接在调节螺杆(166)上，所述调节杆(152)的一端固定设置有用于驱动调节螺杆(166)转动的调节电机(167)。