[发明专利]晶片的抛光方法及晶片在审

专利信息
申请号: 202310019781.8 申请日: 2023-01-06
公开(公告)号: CN116117681A 公开(公告)日: 2023-05-16
发明(设计)人: 梁成华 申请(专利权)人: 蓝思科技(长沙)有限公司
主分类号: B24B37/08 分类号: B24B37/08;B24B37/04;B24B7/22
代理公司: 北京华夏泰和知识产权代理有限公司 11662 代理人: 蔡良伟
地址: 410199 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 晶片 抛光 方法
【说明书】:

本公开涉及一种晶片的抛光方法及晶片,该晶片的抛光方法包括:对晶片的双面进行第一次研磨,获得一级晶片;对一级晶片进行双面抛光,获得二级晶片,二级晶片的粗糙度为第一目标粗糙度;将二级晶片的第一面覆压至底座上,以在第一面和底座之间形成光圈;对贴合在底座上的二级晶片的第二面进行第二次研磨,以得到目标晶片,目标晶片的第二面的粗糙度为第二目标粗糙度,第二目标粗糙度大于第一目标粗糙度。本公开技术方案有效解决了传统单面抛光晶片平整度低、品质差的技术问题,大幅提高了单面抛光晶片的平整度和品质;且整个工艺操作简单,提高了单面抛光晶片的生产效率。

技术领域

本公开涉及衬底加工技术领域,尤其涉及一种晶片的抛光方法及晶片。

背景技术

蓝宝石是一种具有良好透光性和导热性的单晶材料,由于其具有优异的光学性能、物理性能和稳定的化学性能,使得其被广泛应用于光学元器件、显示屏、摄像头等各类衬底材料中。传统衬底晶片的单面抛光使用单面抛光机,将研磨后具有一定粗糙度的晶片使用石蜡粘接在底座上,然后对晶片进行抛光作业,以得到单面抛光的晶片。但是,由于传统的采用蜡粘固定后的晶片与底座之间具有一层蜡层,使得加工后的晶片平整度低、品质差。

发明内容

本公开提供了一种晶片的抛光方法及晶片,以解决传统单面抛光晶片平整度低、品质差的技术问题。

为此,第一方面,本公开提供了一种晶片的抛光方法,包括:

对晶片的双面进行第一次研磨,获得一级晶片;

对一级晶片进行双面抛光,获得二级晶片,二级晶片的粗糙度为第一目标粗糙度;

将二级晶片的第一面覆压至底座上,以在第一面和底座之间形成光圈;

对贴合在底座上的二级晶片的第二面进行第二次研磨,以得到目标晶片,目标晶片的第二面的粗糙度为第二目标粗糙度,第二目标粗糙度大于第一目标粗糙度。

在一种可能的实施方式中,底座具有用于与二级晶片贴合的贴合面,贴合面具有第三粗糙度,第三粗糙度小于或者等于第一目标粗糙度,且贴合面的平整度小于或者等于二级晶片的平整度。

在一种可能的实施方式中,底座的材质为蓝宝石或陶瓷。

在一种可能的实施方式中,将二级晶片的第一面覆压至底座上,以在第一面和底座之间形成光圈的步骤之后还包括:在二级晶片和底座贴合的边缘处连续涂覆胶水。

在一种可能的实施方式中,将二级晶片的第一面覆压至底座上,以在第一面和底座之间形成光圈包括:采用气压头对二级晶片施压,以使二级晶片与底座贴合紧密。

在一种可能的实施方式中,对贴合在底座上的二级晶片的第二面进行第二次研磨,以得到目标晶片的步骤包括:使用单面研磨机,单面研磨机包括相对设置的上抛头和下铸铁盘,将底座放置于下铸铁盘中,二级晶片的第二面朝向上抛头,然后通过单面研磨机对二级晶片的第二面进行第二次研磨,得到目标晶片。

在一种可能的实施方式中,对一级晶片进行双面抛光,获得二级晶片的步骤包括:

使用第一双面研磨机,第一双面研磨机包括相对设置的上铜盘和下铜盘,在下铜盘内加入第一抛光液,然后通过第一双面研磨机对一级晶片进行粗抛光,获得粗抛晶片;

使用第二双面研磨机,第二双面研磨机包括相对设置的上磨皮盘和下磨皮盘,在下磨皮盘内加入第二抛光液,然后通过第二双面研磨机对粗抛晶片进行精抛光,获得二级晶片。

在一种可能的实施方式中,对晶片的双面进行第一次研磨,获得一级晶片的步骤包括:使用第三双面研磨机,第三双面研磨机包括相对设置的上铸铁盘和下铸铁盘,在下铸铁盘内加入碳化硼研磨液,然后通过第三双面研磨机对晶片进行第一次研磨,获得一级晶片。

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