[实用新型]电子平衡帽套件

说明书

本实用新型涉及电子平衡帽套件，包括不同形状的多个电子平衡帽，多个电子平衡帽的厚度分别不同，电子平衡帽套设在指形电离室探测器的整个外壁上，指形电离室探测器用于测量X射线束流强度，电子平衡帽包括：探测器腔，用于容纳所述指形电离室；平衡体，顶端部为球形，并包裹探测器腔的上端部；以及支撑体，圆筒形且覆盖所述探测器腔的未被平衡体包裹的部分的外壁，厚度是平衡体的厚度，不同形状的多个电子平衡帽包含平衡体与支撑体的外径大小关系不同的电子平衡帽。通过使用本实用新型的电子平衡帽套件，能够保证各种平衡帽的机械强度的情况下，测量更多的能量范围的X射线束流。

技术领域

本实用新型涉及X射线束流强度测量领域，具体涉及用于测量X射线束流强度的指形电离室的电子平衡帽套件。

背景技术

在核技术应用领域，随着辐射成像安检设备的广泛应用，由于X射线束流强度的准确测量，能够为辐射防护设计、辐射安全分析、辐射成像指标计算等实践活动提供准确数据，从而显得越来越重要。

在实际应用过程中，X射线束流强度的常用测量手段是利用指形电离室测量束流的照射量或比释动能，其准确测量要求保证电子平衡。根据X射线能量不同，通常在指形电离室壁外壁上套设一层某一厚度的空气等效固体材料(例如，石墨、塑料、树脂等)来实现电子平衡，这层空气等效固体材料称为电子平衡帽(简称，平衡帽)。

目前市场上辐射成像安检设备的能量跨度大、能量分级多，从100keV到15MeV各种X射线能量达几十种，单一或简单几种厚度的平衡帽已不能满足准确测量的要求。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，提供能够使得指形电离室类型的探测器在较宽能量范围内测量X射线束流强度的电子平衡帽套件。

本实用新型的一个方面提供一种电子平衡帽套件，其中，包括不同形状的多个电子平衡帽，多个电子平衡帽的厚度分别不同，电子平衡帽套设在指形电离室探测器的整个外壁上，指形电离室探测器用于测量X射线束流强度电子平衡帽包括：探测器腔，用于容纳所述指形电离室；平衡体，顶端部为球形，并包裹所述探测器腔的上端部；以及支撑体，圆筒形且覆盖所述探测器腔的未被平衡体包裹的部分的外壁，所述厚度是所述平衡体的厚度，不同形状的多个电子平衡帽包含所述平衡体与所述支撑体的外径大小关系不同的电子平衡帽。

在上述的电子平衡帽套件中，指形电离室探测器包括指形电离室和探测器支撑体，指形电离室的直径小于探测器支撑体的直径。

在上述的电子平衡帽套件中，在多个电子平衡帽的一部分中，平衡体和支撑体的外径不同。

在上述的电子平衡帽套件中，包括：C型平衡帽，平衡体的外径小于支撑体的外径。

在上述的电子平衡帽套件中，还包括：B型平衡帽，平衡体的外径大于支撑体的外径。

在上述的电子平衡帽套件中，B型平衡帽在轴向上不仅覆盖指形电离室，还覆盖探测器支撑体的一部分。

在上述的电子平衡帽套件中，电子平衡帽由有机玻璃制成。

在上述的电子平衡帽套件中，还包括：A型平衡帽，平衡体和支撑体的外径相同。

在上述的电子平衡帽套件中，A型平衡帽、B型平衡帽、C型平衡帽的整体的厚度范围在1～32mm。

在上述的电子平衡帽套件中，A型平衡帽的厚度范围在1～3mm；B型平衡帽的厚度范围在4～11mm；C型平衡帽的厚度范围在12～32mm。

在上述的电子平衡帽套件中，A型平衡帽、B型平衡帽、C型平衡帽的平衡体的顶端部的半径范围在5～36mm。

在上述的电子平衡帽套件中，A型平衡帽的半径范围在5～7mm；B型平衡帽的半径范围在8～15mm；C型平衡帽的半径范围在16～36mm。