[实用新型]电子平衡帽套件

权利要求书

1.一种电子平衡帽套件，其中，

包括不同形状的多个电子平衡帽，所述多个电子平衡帽的厚度分别不同，

所述电子平衡帽套设在指形电离室探测器的整个外壁上，

所述指形电离室探测器用于测量X射线束流强度，

所述电子平衡帽包括：

探测器腔，用于容纳所述指形电离室；

平衡体，顶端部为球形，并包裹所述探测器腔的上端部；以及

支撑体，圆筒形且覆盖所述探测器腔的未被平衡体包裹的部分的外壁，

所述厚度是所述平衡体的厚度，

不同形状的多个电子平衡帽包含所述平衡体与所述支撑体的外径大小关系不同的电子平衡帽。

2.如权利要求1所述的电子平衡帽套件，其中，

所述指形电离室探测器包括指形电离室和探测器支撑体，所述指形电离室的直径小于所述探测器支撑体的直径。

3.如权利要求2所述的电子平衡帽套件，其中，

在所述多个电子平衡帽的一部分中，所述平衡体和所述支撑体的外径不同。

4.如权利要求3所述的电子平衡帽套件，其中，包括：

C型平衡帽，所述平衡体的外径小于所述支撑体的外径。

5.如权利要求4所述的电子平衡帽套件，其中，还包括：

B型平衡帽，所述平衡体的外径大于所述支撑体的外径。

6.如权利要求5所述的电子平衡帽套件，其中，

所述B型平衡帽在轴向上不仅覆盖所述指形电离室，还覆盖所述探测器支撑体的一部分。

7.如权利要求6所述的电子平衡帽套件，其中，

所述电子平衡帽由有机玻璃制成。

8.如权利要求5所述的电子平衡帽套件，其中，还包括：

A型平衡帽，所述平衡体和所述支撑体的外径相同。

9.如权利要求8所述的电子平衡帽套件，其中，

所述A型平衡帽、所述B型平衡帽、所述C型平衡帽的整体的厚度范围在1～32mm。

10.如权利要求9所述的电子平衡帽套件，其中，

所述A型平衡帽的厚度范围在1～3mm；

所述B型平衡帽的厚度范围在4～11mm；

所述C型平衡帽的厚度范围在12～32mm。

11.如权利要求8所述的电子平衡帽套件，其中，

所述A型平衡帽、所述B型平衡帽、所述C型平衡帽的平衡体的所述顶端部的半径范围在5～36mm。

12.如权利要求11所述的电子平衡帽套件，其中，

所述A型平衡帽的半径范围在5～7mm；

所述B型平衡帽的半径范围在8～15mm；

所述C型平衡帽的半径范围在16～36mm。

13.如权利要求1所述的电子平衡帽套件，其中，

不同形状和不同厚度的多个电子平衡帽分别用于测量不同能量的X射线束流强度。

14.如权利要求3所述的电子平衡帽套件，其中，还包括：

B型平衡帽，所述平衡体的外径大于所述支撑体的外径。