[实用新型]一种半导体检测设备

说明书

本实用新型涉及半导体检测技术领域，且公开了一种半导体检测设备，包括机体，所述机体的顶端一侧内部设有工作密闭空间，所述工作密闭空间内部底端的中部设有固定防护垫，所述固定防护垫的顶端中部设有活动旋转柱，所述活动旋转柱的顶端设有旋转工作承台，所述支撑旋转臂远离第一角度旋转连接柱一侧的顶端均设有第二角度旋转连接柱，所述第二角度旋转连接柱的顶端均设有连接工作臂，所述连接工作臂远离第二角度旋转连接柱一侧的底端设有拿放固定夹，在进行检查时先通过传感检测器进行检测，后通过显微检测仪进行检测，之后通过X光感器再次检测后进行数据传输，对半导体的问题能更直观的进行检测，使检测的数据更加准确。

技术领域

本实用新型涉及半导体检测技术领域，更具体地涉及一种半导体检测设备。

背景技术

半导体是指在常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料，半导体在收音机、电视机以及测温上有较为广泛的应用，半导体是指一种导电性恪守控制，范围可从绝缘体至导体之间的材料，半导体不论是在科技还是在经济发展上的重要性都是非常巨大的。现在市面上大多数的电子产品，计算机、电话、录音机中的核心单元都和半导体有着极为密切的关连。

随着科技的发展现在市面上的半导体芯片是万物智能化的关键支撑，芯片的各类智能化产品中的信息手机和处理环节具有不可代替的作用，由于半导体芯片本身所使用环境较为复杂，一旦产生失效的话，在一些较为高科技的产物中可能会造成较为严重的后果，芯片的制造工艺复杂程度不断的增加，部分工艺瑕疵可能导致制造不良，只有经过检测，才能保证出货质量。

现在市面上进行检查的设备，在进行检测时对半导体物件进行取放时，由人工操作，操作复杂不便，同时在进行检测时大多都是采用传统的传感器检测，可能导致检测数据不准确。

实用新型内容

为了克服现有技术的上述缺陷，本实用新型提供了一种半导体检测设备，以解决上述背景技术中存在的问题。

本实用新型提供如下技术方案：一种半导体检测设备，包括机体，其特征在于：所述机体的顶端一侧内部设有工作密闭空间，所述工作密闭空间与机体固定连接，所述工作密闭空间内部底端的中部设有固定防护垫，所述固定防护垫的底端设在机体内壁上，所述固定防护垫顶端端角处设有固定六角螺栓，所述固定六角螺栓贯穿固定防护垫且固定在机体上，所述固定防护垫通过固定六角螺栓与机体固定连接，所述固定防护垫的顶端中部设有活动旋转柱，所述活动旋转柱贯穿固定防护垫且活动连接，所述活动旋转柱的顶端设有旋转工作承台，所述活动旋转柱与旋转工作承台固定连接，所述旋转工作承台的顶端相对的两个端角均设有第一角度旋转连接柱，所述第一角度旋转连接柱贯穿旋转工作承台且活动连接，所述第一角度旋转连接柱的顶端均设有支撑旋转臂，所述第一角度旋转连接柱与支撑旋转臂活动连接，所述支撑旋转臂远离第一角度旋转连接柱一侧的顶端均设有第二角度旋转连接柱，所述第二角度旋转连接柱与支撑旋转臂活动连接，所述第二角度旋转连接柱的顶端均设有连接工作臂，所述第二角度旋转连接柱与连接工作臂活动连接，所述连接工作臂远离第二角度旋转连接柱一侧的底端设有拿放固定夹，所述拿放固定夹靠近连接工作臂的一端设有固定螺栓，所述固定螺栓贯穿拿放固定夹且固定在连接工作臂内，所述拿放固定夹通过固定螺栓与连接工作臂固定连接；

进一步的，所述工作密闭空间内部一侧的顶端设有第一固定连接管，所述第一固定连接管与工作密闭空间固定连接，所述第一固定连接管的底端设有传感检测器，所述第一固定连接管与传感检测器固定连接，所述第一固定连接管的一侧设有第二固定连接管，所述第二固定连接管的顶端固定连接有工作密闭空间，所述第二固定连接管的底端固定连接有显微检测仪。

进一步的，所述工作密闭空间内部另一侧的顶端设有固定连接柱，所述固定连接柱与工作密闭空间固定连接，所述固定连接柱的底端设有传感箱，所述传感箱与固定连接柱固定连接，所述传感箱的底端设有X光感器，所述传感箱与X光感器固定连接。