[实用新型]一种芯片测试翻转机构有效

专利信息
申请号: 202222436743.6 申请日: 2022-09-14
公开(公告)号: CN218240060U 公开(公告)日: 2023-01-06
发明(设计)人: 张新宇;牟宏山;肖钰 申请(专利权)人: 无锡兴华衡辉科技有限公司
主分类号: G01N33/68 分类号: G01N33/68;B65G15/00;B65G47/248;B65G43/08
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 葛莉华
地址: 214000 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 芯片 测试 翻转 机构
【权利要求书】:

1.一种芯片测试翻转机构,其特征在于,包括对称的输送带(1),所述输送带(1)之间设置有举升机构(2),所述举升机构(2)顶面与所述输送带(1)顶面处于同一水平面,所述输送带(1)上位于所述举升机构(2)一侧设置有位置传感器(3)。

2.如权利要求1所述的一种芯片测试翻转机构,其特征在于,所述举升机构(2)包括吹气块(201),所述吹气块(201)表面纵向设置有若干吹气孔(202),所述吹气块(201)内部设置有与所述吹气孔(202)连通的吹气管路(203),所述吹气块(201)底部设置有气泵(204),所述气泵(204)吹气端与所述吹气管路(203)进行连接。

3.如权利要求1所述的一种芯片测试翻转机构,其特征在于,所述输送带(1)上方设置有机架(4),所述机架(4)上设置有相机(8),所述相机(8)朝向所述输送带(1)。

4.如权利要求3所述的一种芯片测试翻转机构,其特征在于,所述机架(4)上设置有气缸(5),所述气缸(5)轴端设置有吸盘(6)。

5.如权利要求1所述的一种芯片测试翻转机构,其特征在于,所述输送带(1)的两侧设置有限位板(7)。

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