[实用新型]一种探针卡板

说明书

一种探针卡板，包括PCB板,PCB板上连接有tr im测试板、继电器控制单元、第一继电器组、第二继电器组；PCB板上开设有芯片测试槽，芯片测试槽用于放置待检测的芯片；tr im测试板上设有32个对称的测试触点；继电器控制单元上设有芯片功能模块引脚、第一电流电压控制引脚、第二电流电压控制引脚、输出信号引脚；第一继电器组连接分别连接电流电压控制引脚以及待检测的芯片带有熔丝的引脚，实现熔丝的熔断；芯片功能模块引脚、第二继电器组、待测的芯片的功能模块引脚连接,实现芯片功能的测试。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，尤其涉及一种探针卡板。

背景技术

探针卡板作为一种高精密电子元件，主要应用在芯片尚未封装前，通过将探针卡板上的探针与芯片上的焊垫或凸块进行接触，从而接收芯片讯号，筛选出不良产品。探针卡板是芯片制造中影响极大的高精密器件，也是确保芯片良品率和成本控制的重要环节。在使用时，通常是通过测试机台发送测试信号，经探针卡板到待测物，再由待测物回送测试结果信号，经探针卡板到测试机台进行分析。由于每一种芯片的构造和所要达到的目的不同，必要的测试方法也有所不同，这就要求同一类型的芯片测试必须配有特定的探针卡板进行测试。

实用新型内容

为了测试半导体芯片型号C108-2500，所以针对这样型号的半导体芯片需要配套的探针卡板对其进行测试，本实用新型采用以下技术方案：

本实用新型提供了一种探针卡板，包括PCB板,PCB板上连接有trim测试板、继电器控制单元、第一继电器组、第二继电器组、第三继电器；

PCB板上开设有芯片测试槽，芯片测试槽用于放置待检测的型号为C108-2500的半导体芯片U1；trim测试板上设有32个对称的测试触点；

第一继电器组包括6个继电器，分别为继电器KS、KCS0、KCS1、KM、KIM、KCF_CS；第二继电器组包括12个继电器，分别为继电器KT1～KT12；第三继电器组包括2个继电器，分别为继电器KIO、K4。

继电器控制单元上设有芯片功能模块引脚、第一电流电压控制引脚、第二电流电压控制引脚、输出信号引脚。其中：继电器控制单元为JP接线牛角，JP接线牛角的UR9～UR14引脚为第一电流电压控制引脚；JP接线牛角的UR3～UR8引脚为第二电流电压控制引脚；JP接线牛角的UR1～UR2引脚为第三电流电压控制引脚；JP接线牛角的A2F引脚、A2S引脚、D2F引脚、D2S引脚连接、C4F引脚、C4S引脚为输出信号引脚；JP接线牛角的B2F引脚、B2S引脚、C2F引脚、C2S引脚、A4F引脚、A4S引脚、B4F引脚、B4S引脚、D4F引脚、D4S引脚为芯片功能模块引脚；JP接线牛角的UR引脚外接+5V电压；JP接线牛角的A3GF、A3GS、A4GS、A4GF、A1GF、A1GS、A2GS、A2GF引脚接地；

1.第一继电器组连接分别连接第一电流电压控制引脚以及待检测的芯片带有熔丝的引脚，实现熔丝的熔断。具体连接方式如下：

UR9引脚分别与继电器KT10和继电器KT12的线圈一端连接；UR10引脚分别与继电器KT9和继电器KT10的线圈一端连接；UR11引脚分别与继电器KT8和继电器KT7的线圈一端连接；UR12引脚分别与继电器KT6和继电器KT5的线圈一端连接；UR13引脚分别与继电器KT4和继电器KT3的线圈一端连接；UR14引脚分别与继电器KT2和继电器KT1的线圈一端连接；