[实用新型]一种探针卡板有效
| 申请号: | 202222095597.5 | 申请日: | 2022-08-09 |
| 公开(公告)号: | CN218727792U | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
| 发明(设计)人: | 周国成 | 申请(专利权)人: | 无锡矽鹏半导体检测有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G01R1/073 |
| 代理公司: | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人: | 朱晓林 |
| 地址: | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 探针 | ||
1.一种探针卡板,其特征在于,包括PCB板,所述PCB板上连接有trim测试板、继电器控制单元、第一继电器组、第二继电器组;
所述PCB板上开设有芯片测试槽,所述芯片测试槽用于放置待检测的芯片;
所述trim测试板上设有64个测试触点;
所述继电器控制单元上设有芯片功能模块引脚、第一电流电压控制引脚、第二电流电压控制引脚、输出信号引脚;
所述第一继电器组连接分别连接所述第一电流电压控制引脚以及所述待检测的芯片带有熔丝的引脚,实现熔丝的熔断;
所述第二电流电压控制引脚、所述第二继电器组、待测的芯片的功能模块引脚连接,实现芯片功能的测试;
第三电流电压控制引脚、第三继电器组、所述输出信号引脚连接,实现芯片输出信号测试。
2.根据权利要求1所述一种探针卡板,其特征在于,所述继电器控制单元为JP接线牛角,JP接线牛角的UR9~UR14引脚为所述第一电流电压控制引脚;所述JP接线牛角的B2F引脚、B2S引脚、C2F引脚、C2S引脚、A4F引脚、A4S引脚、B4F引脚、B4S引脚、D4F引脚、D4S引脚为所述芯片功能模块引脚;所述JP接线牛角的UR引脚外接+5V电压;所述JP接线牛角的A3GF、A3GS、A4GS、A4GF、A1GF、A1GS、A2GS、A2GF引脚接地;
所述第一继电器组包括6个继电器,分别为继电器KS、KCS0、KCS1、KM、KIM、KCF_CS;
所述第一继电器组连接分别连接所述第一电流电压控制引脚以及所述待检测的芯片带有熔丝的引脚,实现熔丝的熔断的连接方式为:
UR9引脚分别与继电器KT10和继电器KT12的线圈一端连接;UR10引脚分别与继电器KT9和继电器KT10的线圈一端连接;UR11引脚分别与继电器KT8和继电器KT7的线圈一端连接;UR12引脚分别与继电器KT6和继电器KT5的线圈一端连接;UR13引脚分别与继电器KT4和继电器KT3的线圈一端连接;UR14引脚分别与继电器KT2和继电器KT1的线圈一端连接;
继电器KT1~继电器KT12中,每个继电器控制两对常闭触点,继电器KT1的一常闭触点KT1_S1A的一端与trim测试板的47引脚连接,另一端与U1的F4触点连接,另一常闭触点KT1_S1B的一端与trim测试板的46和48引脚连接,另一端与U1的VSS3触点连接;继电器KT2的一常闭触点KT2_S1A的一端与trim测试板的45引脚连接,另一端与U1的F3触点连接,另一常闭触点KT2_S1B的一端与trim测试板的43引脚连接,另一端与U1的F2触点连接;继电器KT3的一常闭触点KT3_S1A的一端与trim测试板的42和44引脚连接,另一端与U1的VSS1触点连接,另一常闭触点KT3_S1B的一端与trim测试板的41引脚连接,另一端与U1的F1触点连接;继电器KT4的一常闭触点KT4_S1A的一端与trim测试板的39引脚连接,另一端与U1的F5触点连接,另一常闭触点KT4_S1B的一端与trim测试板的40和38引脚连接,另一端与U1的VSS5触点连接;继电器KT5的一常闭触点KT5_S1A的一端与trim测试板的35引脚连接,另一端与U1的F6触点连接,另一常闭触点KT5_S1B的一端与trim测试板的37引脚连接,另一端与U1的F7触点连接;继电器KT6的一常闭触点KT6_S1A的一端与trim测试板的36和34引脚连接,另一端与U1的VSS7触点连接,另一常闭触点KT6_S1B的一端与trim测试板的33引脚连接,另一端与U1的F8触点连接;继电器KT7的一常闭触点KT7_S1A的一端与trim测试板的15引脚连接,另一端与U1的F14触点连接,另一常闭触点KT7_S1B的一端与trim测试板的16和14引脚连接,另一端与U1的VSS14触点连接;继电器KT8的一常闭触点KT8_S1A的一端与trim测试板的13引脚连接,另一端与U1的F15触点连接,另一常闭触点KT8_S1B的一端与trim测试板的11引脚连接,另一端与U1的F11触点连接;继电器KT9的一常闭触点KT9_S1A的一端与trim测试板的10和12引脚连接,另一端与U1的VSS11触点连接,另一常闭触点KT9_S1B的一端与trim测试板的9引脚连接.另一端与U1的F16触点连接;继电器KT10的一常闭触点KT10_S1A的一端与trim测试板的7引脚连接,另一端与U1的F12触点连接,另一常闭触点KT10_S1B的一端与trim测试板的8和6引脚连接;另一端与U1的VSS9触点连接;继电器KT11的一常闭触点KT11_S1A的一端与trim测试板的5引脚连接,另一端与U1的F9触点连接,另一常闭触点KT11_S1B的一端与trim测试板的3引脚连接;另一端与U1的F10触点连接;继电器KT12的一常闭触点KT12_S1A的一端与trim 测试板的2和4引脚连接,另一端与U1的VSS10触点连接,另一常闭触点KT12_S1B的一端与trim测试板的1引脚连接,另一端与U1的F13触点连接。
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