[实用新型]一种多层级晶圆承载盒有效
| 申请号: | 202221555759.2 | 申请日: | 2022-06-21 | 
| 公开(公告)号: | CN217847897U | 公开(公告)日: | 2022-11-18 | 
| 发明(设计)人: | 黄诗妤 | 申请(专利权)人: | 厦门东骏佳得环保科技有限公司 | 
| 主分类号: | H01L21/673 | 分类号: | H01L21/673 | 
| 代理公司: | 福州君越知识产权代理事务所(普通合伙) 35299 | 代理人: | 朱玉珍 | 
| 地址: | 361000 福建省厦门市中国(福建)自由贸易*** | 国省代码: | 福建;35 | 
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 多层 级晶圆 承载 | ||
本实用新型公开了一种多层级晶圆承载盒,其技术方案是:包括盒体、多个与盒体相匹配的内储盒、以及驱动内储盒移动的调节组件,盒体顶部设有与盒体相匹配的盒盖,盒体与盒盖活动套接,盒盖底部两侧设有缓冲组件,内储盒内部设有存储组件;调节组件包括承载板,内储盒与承载板相贴合;存储组件包括两个弧形底座,内储盒内部设有晶圆片,晶圆片设于内储盒内腔且与内储盒活动套接,两个弧形底座分别设于内储盒内腔两侧且与内储盒滑动连接,晶圆片设于两个弧形底座中部,一种多层级晶圆承载盒有益效果是:解决现有的晶圆的规格不相同,在需要寻找特定规格的晶圆时,宝塔式叠放不易于承载盒底部晶圆的取出的问题。
技术领域
本实用新型涉及晶圆收纳技术领域,具体涉及一种多层级晶圆承载盒。
背景技术
晶圆是指制作硅半导体电路所用的硅晶片,其原始材料是硅,高纯度的多晶硅溶解后掺入硅晶体晶种,然后慢慢拉出,形成圆柱形的单晶硅,硅晶棒在经过研磨,抛光,切片后,形成硅晶圆片,也就是晶圆。
现有的晶圆再生产出来后,大多数都是直接将晶圆呈宝塔式存放在相应的承载盒内部,由于晶圆的规格并不完全相同,在需要寻找特定规格的晶圆时,宝塔式叠放不易于承载盒底部的晶圆的取出。
发明内容
为此,本实用新型提供一种多层级晶圆承载盒,通过在盒体内部设置多个竖直摆放的内储盒,便于晶圆的存储以及寻找取出,同时通过调节组件的设置,使得内储盒升降,从而便于晶圆的取出以及寻找,以解决现有的晶圆的规格并不完全相同,在需要寻找特定规格的晶圆时,宝塔式叠放不易于承载盒底部的晶圆的取出的问题。
为了实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:一种多层级晶圆承载盒,包括盒体、多个与盒体相匹配的内储盒、以及驱动内储盒移动的调节组件,所述盒体顶部设有与盒体相匹配的盒盖,所述盒体与盒盖活动套接,所述盒盖底部两侧设有缓冲组件,所述内储盒内部设有存储组件;
所述调节组件包括承载板,所述盒体内腔左右两侧均开设有两个滑动槽,所述承载板两端均固定连接有滑动块,所述滑动块设于滑动槽内部且与盒体滑动连接,所述盒体前后两侧开设有多个滑槽,所述内储盒两侧均固定连接有固定块,所述固定块设于滑槽内部且与盒体滑动连接,所述内储盒与承载板相贴合;
所述存储组件包括两个弧形底座,所述内储盒内部设有晶圆片,所述晶圆片设于内储盒内腔且与内储盒活动套接,两个所述弧形底座分别设于内储盒内腔两侧且与内储盒滑动连接,所述晶圆片设于两个弧形底座中部,所述晶圆片外侧与两个弧形底座侧弧面相贴合。
优选的,所述滑动槽内部通过轴承转动连接有螺纹杆,所述螺纹杆与滑动块螺纹连接,两个所述螺纹杆外周螺纹相反。
优选的,所述盒体一侧底部两端均开设有转动槽,所述转动槽内部通过轴承转动连接有转动杆,所述盒体一侧底部两侧均设有皮带轮,所述转动杆一端贯穿盒体且与皮带轮轴心处固定连接,两个所述皮带轮外侧活动套接有传动带。
优选的,所述螺纹杆底部固定连接有第一锥齿轮,所述转动杆外周两侧固定连接有第二锥齿轮,所述第二锥齿轮与第一锥齿轮啮合连接。
优选的,所述盒体一侧底部固定连接有固定台,所述固定台顶部固定连接有电机,所述电机输出端与皮带轮轴心处固定连接。
优选的,所述内储盒内腔两侧均固定连接有固定杆,所述弧形底座一侧开设有内槽,所述固定杆一端固定连接有连接块,所述连接块设于内槽内部且与弧形底座滑动连接。
优选的,所述连接块一端固定连接有第一复位弹簧,所述第一复位弹簧设于内槽内部且一端与弧形底座固定连接。
优选的,所述缓冲组件包括压合板,所述盒盖底部开设有空腔,所述压合板设于空腔内部且与盒盖滑动连接,所述晶圆片外侧与压合板底部相贴合,所述压合板顶部固定连接有固定板。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





