[实用新型]一种芯片脱膜装置有效
| 申请号: | 202221454358.8 | 申请日: | 2022-06-13 |
| 公开(公告)号: | CN217521958U | 公开(公告)日: | 2022-09-30 |
| 发明(设计)人: | 王昕;徐震鸣;吴凯;韦青;李巍巍 | 申请(专利权)人: | 无锡红光微电子股份有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
| 代理公司: | 江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙) 32380 | 代理人: | 江霞 |
| 地址: | 214000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 芯片 装置 | ||
本实用新型涉及一种芯片脱膜装置,包括底座、螺杆、锁紧座和四个顶针,所述螺杆竖向设置,所述底座固定设置在螺杆的底端,所述锁紧座的形状为圆台,所述锁紧座与螺杆同轴设置,所述锁紧座的最小直径的一端固定设置在螺杆顶端,所述螺杆上螺纹连接有锁紧环,所述锁紧环与锁紧座的侧面抵靠,所述锁紧座的顶部设置有四个条形槽,四个条形槽以螺杆的轴线为中心周向均匀分布,该芯片脱膜装置,实现了顶针在芯片底部四角处顶起,并使顶针顶起位置与吸嘴吸附芯片位置正对,避免芯片受力错位而导致芯片损坏,而且,通过顶针的水平方向的移动,则可以根据芯片尺寸调节顶针顶起位置,消除顶针安装孔数量的限制,使该装置适用于不同尺寸的芯片。
技术领域
本实用新型涉及一种芯片脱膜装置,属于传感器生产技术领域。
背景技术
传感器是一种检测装置,能感受到被测量的信息,并能将感受到的信息,按一定规律变换成为电信号或其他所需形式的信息输出,以满足信息的传输、处理、存储、显示、记录和控制等要求。传感器的特点包括:微型化、数字化、智能化、多功能化、系统化、网络化。它是实现自动检测和自动控制的首要环节。传感器的存在和发展,让物体有了触觉、味觉和嗅觉等感官,让物体慢慢变得活了起来。通常根据其基本感知功能分为热敏元件、光敏元件、气敏元件、力敏元件、磁敏元件、湿敏元件、声敏元件、放射线敏感元件、色敏元件和味敏元件等十大类。
传感器在生产过程中,需要经过装片、球焊、测试等工序,而装片工序中,芯片从划片膜上分离过程即顶针顶起和吸嘴配合拾起过程。顶针主要起到分离芯片和划片膜的作用,实现芯片脱膜,对于半导体封装技术领域,通常装片顶针均安装在顶针座上,且顶针座带动顶针向上移动顶起芯片时,为了提高顶起芯片的稳定性,大都会使顶针直接顶在芯片底部的正中心,而吸嘴在吸附芯片时,会对芯片产生向下的作用力,且为了防止吸嘴损坏芯片顶部正中心处的键合区域,大都使吸嘴吸附在芯片顶部的四角处,从而易导致芯片上下受力产生错位,易导致芯片损坏,而且,现有的顶针座上用于安装顶针的安装孔数量有限且位置固定,难以适用于不同尺寸的芯片。
因此,需要有一种芯片脱膜装置,提高芯片受力均匀度,防止芯片损坏,同时适用于不同尺寸芯片。
实用新型内容
本实用新型要解决的技术问题是:为了克服现有技术的不足,提供一种芯片脱膜装置。
本实用新型解决上述问题所采用的技术方案为:一种芯片脱膜装置,包括底座、螺杆、锁紧座和四个顶针,所述螺杆竖向设置,所述底座固定设置在螺杆的底端,所述锁紧座的形状为圆台,所述锁紧座与螺杆同轴设置,所述锁紧座的最小直径的一端固定设置在螺杆顶端,所述螺杆上螺纹连接有锁紧环,所述锁紧环与锁紧座的侧面抵靠,所述锁紧座的顶部设置有四个条形槽,四个条形槽以螺杆的轴线为中心周向均匀分布,四个条形槽形成十字形,所述条形槽向下延伸至螺杆的底端,所述条形槽的两端延伸至锁紧座的侧面,所述顶针与条形槽一一对应,所述顶针竖向插入条形槽,所述顶针与条形槽之间设置有间隙,所述锁紧座的顶部设置有调节机构;
所述调节机构包括四个调节组件,所述调节组件与顶针一一对应;
所述调节组件包括两个调节单元,两个调节单元关于条形槽对称设置,所述调节单元包括水平设置的导杆,所述导杆的两端均与锁紧座的顶部固定连接,所述导杆上滑动连接有滑块,所述滑块的靠近条形槽的一侧固定设置有夹块,所述滑块上设置有锁紧部件,所述锁紧部件与锁紧座连接。
作为优选,所述调节组件还包括两个同步部件,两个同步部件中,其中一个同步部件设置在夹块的靠近螺杆轴线的一侧,另一个同步部件设置在夹块的另一侧,所述同步部件包括连接杆和两个固定块,所述固定块与夹块一一对应,所述固定块固定设置在夹块上,所述连接杆水平设置,所述连接杆与导杆垂直,所述连接杆活动穿过两个固定块。
作为优选,所述连接杆的两端均固定设置有限位块,所述限位块与固定块之间设置有间隙。
作为优选,所述夹块的靠近条形槽的一侧设置有弧形的凹槽,所述凹槽的轴线竖向设置。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





