[实用新型]一种用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统

说明书

本实用新型涉及光器件测试技术领域，公开了一种用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统，包括服务计算机、光谱仪和多个光器件的测试单元，每个测试单元均包括测试计算机、耦合电源和分光器，多个所述测试单元的分光器通过至少一个光开关与光谱仪形成测试通路。本实用新型通过在多个光器件功率测试系统中增加一个光开关，用于切换多工位测试单元进入光谱仪的光，实现光谱仪共享；尤其是在工厂产量提升需要增加测试工位时，无需使用光耦合器，即可实现几个工位共用一个光谱仪，可以降低增加测试工位的成本，也能节约扩产成本，提高贵重设备的使用效率。

技术领域

本实用新型涉及光器件测试技术领域，具体涉及一种用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统。

背景技术

在光器件的功率测试系统中，一般需要PIV智能耦合电源(简称耦合电源)，用于光器件加电和一些参数测试。光谱仪用于测试光器件光谱参数。目前，采用方法如图1所示，每个工位都有自己独立占用的光谱仪，适用于单工位测试系统搭建。

现有的光器件测试设备无法实现光谱仪的多工位共享，在工厂光器件产量提升需要增加测试工位时，由于光谱仪采购价格比较高，增加测试工位的会大大提高成本，设备使用效率低。

实用新型内容

基于以上问题，本实用新型提供一种用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统，通过在多个光器件功率测试系统中增加一个光开关，用于切换多工位测试单元进入光谱仪的光，实现光谱仪共享；尤其是在工厂产量提升需要增加测试工位时，无需使用光耦合器，即可实现几个工位共用一个光谱仪，可以降低增加测试工位的成本，也能节约扩产成本，提高贵重设备的使用效率。

为解决上述技术问题，本实用新型所采用的技术方案是：

一种用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统，包括服务计算机、光谱仪和多个光器件的测试单元，每个测试单元均包括测试计算机、耦合电源和分光器，多个测试单元的分光器通过至少一个光开关与光谱仪形成测试通路。

进一步地，测试计算机与服务计算机之间采用TCP协议通信连接。

进一步地，服务计算机为多个测试单元的测试计算机中的某一台。

进一步地，耦合电源为PIV智能耦合电源。

与现有技术相比，本实用新型的有益效果是：本实用新型通过在多个光器件功率测试系统中增加一个光开关，用于切换多工位测试单元进入光谱仪的光，实现光谱仪共享；尤其是在工厂产量提升需要增加测试工位时，无需使用光耦合器，即可实现几个工位共用一个光谱仪，可以降低增加测试工位的成本，也能节约扩产成本，提高贵重设备的使用效率。

附图说明

图1为现有测试光器件光谱参数的单工位测试系统；

图2为实施例1中用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统结构示意图；

图3为实施例2中用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统结构示意图；

图4为实施例2中用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统测试流程图；

其中：1、服务计算机；2、光谱仪；3、测试计算机；4、耦合电源；5、分光器；6、光开关。

具体实施方式

为使本实用新型的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施例和附图，对本实用新型作进一步的详细说明，本实用新型的示意性实施方式及其说明仅用于解释本实用新型，并不作为对本实用新型的限定。

实施例1：

参见图2，一种用于光器件功率测试多工位共享光谱仪系统，包括服务计算机1、光谱仪2和多个光器件的测试单元，每个测试单元均包括测试计算机3、耦合电源4和分光器5，多个测试单元的分光器5通过至少一个光开关6与光谱仪2形成测试的光通路；