[实用新型]芯片检测设备

说明书

本实用新型提供了一种芯片检测设备，涉及芯片检测的技术领域，芯片检测设备包括：固定背板、第一滑动板、第二滑动板、检测相机和光源组件，固定背板与第一滑动板之间连接有第一升降机构，第一升降机构用于带动第一滑动板相对于固定背板上下运动；第二滑动板与第一滑动板之间连接有第二升降机构，第二升降机构用于带动第一滑动板沿竖向运动；检测相机与第一滑动板连接，光源组件与第二滑动板连接，光源组件位于检测相机的下方，光源组件上具有自上而下贯穿光源组件的拍摄通道，拍摄通道用于避让检测相机，以使检测相机能够通过拍摄通道采集光源组件下方的芯片的图像信息。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其是涉及一种芯片检测设备。

背景技术

现有方法是通过人工筛选方式实现，在显微镜的辅助下对每个芯片或排线针脚进行观察，对于有缺陷的产品进行逐一检测，对有相关问题的产品手工进行标记处理，检测效率低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种芯片检测设备，以缓解人工检测效率低的技术问题。

本实用新型实施例提供的一种芯片检测设备，包括：固定背板、第一滑动板、第二滑动板、检测相机和光源组件，所述固定背板与所述第一滑动板之间连接有第一升降机构，所述第一升降机构用于带动所述第一滑动板相对于所述固定背板上下运动；所述第二滑动板与所述第一滑动板之间连接有第二升降机构，所述第二升降机构用于带动所述第一滑动板沿竖向运动；

所述检测相机与所述第一滑动板连接，所述光源组件与所述第二滑动板连接，所述光源组件位于所述检测相机的下方，所述光源组件上具有自上而下贯穿所述光源组件的拍摄通道，所述拍摄通道用于避让所述检测相机，以使所述检测相机能够通过所述拍摄通道采集所述光源组件下方的芯片的图像信息。

进一步的，所述第一升降机构包括第一滑轨和第一滑块，所述第一滑块与所述第一滑轨滑动连接，所述第一滑轨沿竖向延伸，所述第一滑轨与所述固定背板连接，所述第一滑块与所述第一滑动板连接。

进一步的，所述第一升降机构包括第一丝杠滑台模组，所述第一丝杠滑台模组包括第一丝杠、第一滑台和电机，所述第一滑台与所述第一丝杠连接，所述第一丝杠与所述电机连接，所述电机用于驱动所述第一丝杠转动，以使所述第一滑台沿竖向运动；

所述第一丝杠滑台模组的固定部与固定背板连接，所述第一滑台与所述第一滑动板连接。

进一步的，所述光源组件包括沿上下方向依次设置的同轴光源和环形补光灯，所述同轴光源上设有位于拍摄通道上的入口和出口，所述出口对准环形补光灯的拍摄圆孔。

进一步的，所述第二升降机构包括第二滑轨和第二滑块，所述第二滑块与所述第二滑轨滑动连接，所述第二滑轨沿竖向延伸，所述第二滑轨与所述第一滑动板连接，所述第二滑块与所述第二滑动板连接。

进一步的，所述第二升降机构包括第二丝杠滑台模组，所述第二丝杠滑台模组包括第二丝杠、第二滑台和驱动单元，所述第二滑台与所述第二丝杠连接，所述第二丝杠与所述驱动单元连接，所述驱动单元用于驱动所述第二丝杠转动，以使所述第二滑台沿竖向运动。

进一步的，所述驱动单元包括能够旋转的主轴，所述主轴与所述第二丝杠垂直，所述主轴的首端设置有第一锥齿轮，所述第二丝杠的底端设置有与所述第一锥齿轮啮合的第二锥齿轮，以使所述主轴能够带动所述第二丝杠旋转。

进一步的，所述驱动单元包括与所述主轴连接的手轮；

所述驱动单元包括锁死结构，所述锁死结构锁死后用于阻止所述手轮旋转。

进一步的，所述主轴上设置有与第一滑动板固定连接的外套管；