[实用新型]继电器控制装置和半导体测试设备有效

专利信息
申请号: 202220465141.0 申请日: 2022-03-04
公开(公告)号: CN217641131U 公开(公告)日: 2022-10-21
发明(设计)人: 孙海洋;钟锋浩;耿霄雄;龚飞佳 申请(专利权)人: 杭州长川科技股份有限公司
主分类号: H01H47/02 分类号: H01H47/02
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 舒淼
地址: 310000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 继电器 控制 装置 半导体 测试 设备
【权利要求书】:

1.一种继电器控制装置,其特征在于,包括:主机箱,以及与所述主机箱分别串联的多个测试单元;其中,每个所述测试单元中包括开关模块、电源模块,以及并行连接的多个继电器;每个所述测试单元中,多个所述继电器通过所述开关模块与所述电源模块连接;所述主机箱分别与每个所述测试单元中的每个所述继电器连接;

每个所述测试单元中,所述电源模块用于当所连接的所述开关模块接通时,向并行连接的每个继电器供电,还用于当所连接的所述开关模块断开时,停止向并行连接的每个继电器供电;

所述主机箱用于当并行连接的每个所述继电器处于供电状态时,向每个所述继电器输出对应的控制信号,以控制每个所述继电器接通或断开。

2.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,每个所述测试单元中还包括与每个所述继电器分别连接的单向电流限制元件;每个所述单向电流限制元件的一端连接所述主机箱,另一端连接对应的所述继电器;

所述单向电流限制元件用于限定所述电源模块的电流流向所述继电器。

3.根据权利要求2所述的装置,其特征在于,所述单向电流限制元件包括二极管;

所述主机箱与每个所述二极管的负极连接,所述二极管的正极连接对应的所述继电器。

4.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,每个所述测试单元中的继电器的数量相同,多个所述测试单元之间的多个所述继电器一一对应;

多个所述测试单元中,相对应的多个所述继电器共用同一个控制信号。

5.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述主机箱包括:主控芯片和至少一个继电器驱动芯片;所述主控芯片分别与所述至少一个继电器驱动芯片连接;

所述主控芯片用于向所述至少一个继电器驱动芯片输出第一触发信号;

所述至少一个继电器驱动芯片用于接收所述第一触发信号,输出所述第一触发信号对应的所述控制信号。

6.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述主机箱包括:主控芯片、缓冲芯片和至少一个继电器驱动芯片;所述主控芯片通过所述缓冲芯片分别与所述至少一个继电器驱动芯片连接;

所述主控芯片用于向所述缓冲芯片输出第二触发信号;

所述缓冲芯片用于接收所述第二触发信号,提升所述第二触发信号的功率,输出提升功率后的第三触发信号;

所述至少一个继电器驱动芯片用于接收所述第三触发信号,输出所述第三触发信号对应的所述控制信号。

7.根据权利要求5或6所述的装置,其特征在于,所述装置还包括:开关模块驱动芯片;所述开关模块驱动芯片分别与所述主控芯片和多个所述测试单元中的开关模块连接;

所述主控芯片用于向所述开关模块驱动芯片输出开关指令;

所述开关模块驱动芯片用于接收所述开关指令,输出所述开关指令对应的开关信号,将所述开关信号发送至所述开关信号对应的所述开关模块,以控制所述开关模块接通或断开。

8.根据权利要求1所述的装置,其特征在于,所述控制信号包括:高阻状态信号或接地状态信号。

9.一种半导体测试设备,其特征在于,包括权利要求1-8任一项所述的继电器控制装置和至少一个被测器件。

10.根据权利要求9所述的设备,其特征在于,所述至少一个被测器件与所述继电器控制装置中的至少一个测试单元连接。

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