[实用新型]一种用于分析不规则光片的电子探针样品台

说明书

本实用新型涉及地质勘探电子探针测试用样品台技术领域，具体公开了一种用于分析不规则光片的电子探针样品台，包括样品台以及设置在样品台上的大光片放样区和小光片放样区，大光片放样区设有大光片样品孔，大光片样品孔内安装有大样品托，大样品托上放置大光片样品；小光片放样区设有两个小光片样品孔，小光片样品孔内安装有小样品托，大样品托上放置小光片样品；本实用新型采用设计不同尺寸的光片样品孔，适用不同非标准尺寸的光片，使得非标准尺寸光片能顺利进入电子探针腔室进行观测；对非标准尺寸的光片的固定形式多样；设计的样品托的底部设有调节凹槽，方便调节光片样品的高度，样品托的底部还设置水平调节螺钉，调节光片样品的水平。

技术领域

本实用新型涉及地质勘探电子探针测试用样品台技术领域，具体涉及一种用于分析不规则光片的电子探针样品台。

背景技术

电子探针可以原位无损快速的对试样的微米级区域进行定量或定性分析。电子探针的试样可以是表面抛光的薄片、树脂圆靶、或者光片，对试样进行喷镀碳膜后放在样品台上，并固定住，然后放入电子探针内样品仓，抽好真空后推入腔室内进行观察或测试。现有的用于光片分析的样品台，将光片放入凹槽处，然后旋转长杆螺丝将光片固定住。此样品台对于光片尺寸要求比较高，要求厚1cm，宽度2cm-7cm，长度小于9cm的长方体。在实际地质测试中，常常遇到一些不规则的尺寸，这时现有的样品台就没法固定试样，从而满足不了测试需求。因此，迫切需要设计一种用于分析不规则光片的电子探针样品台，以解决现有样品台对光片的尺寸要求高、不能适应非标准尺寸光片测试的问题。

实用新型内容

针对现有技术中存在的问题，本实用新型的目的在于提供一种用于分析不规则光片的电子探针样品台。

本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是：一种用于分析不规则光片的电子探针样品台，包括样品台以及设置在样品台上的大光片放样区和小光片放样区，所述大光片放样区设有大光片样品孔，大光片样品孔内安装有大样品托，大样品托上放置大光片样品；小光片放样区设有两个小光片样品孔，小光片样品孔内安装有小样品托，大样品托上放置小光片样品。

具体的是，所述大光片样品孔的内壁设有螺纹，大样品托采用圆板状且外周设有螺纹，用于大样品托丝接在大光片样品孔内。

具体的是，所述小光片样品孔的内壁设有螺纹，小样品托采用圆板状且外周设有螺纹，用于小样品托丝接在小光片样品孔内。

具体的是，所述大光片样品孔的顶部和左右两侧且在工作台上设有螺纹孔，螺纹孔内丝接有光片顶丝一，光片顶丝一的端部顶在大光片样品上，用于光片顶丝一将大光片样品固定在大样品托上。

具体的是，所述小光片样品孔的底部和外侧部且在工作台上设有螺纹孔，螺纹孔内丝接有光片顶丝二，光片顶丝二的端部顶在小光片样品上，用于光片顶丝二将小光片样品固定在小样品托上。

具体的是，所述大样品托和小样品托的底部均设有调节凹槽和多个水平调节螺钉，调节凹槽通过螺丝刀调节大样品托或小样品托的高度，水平调节螺钉通过螺丝刀调节大光片样品或小光片样品的水平。

具体的是，所述样品台上设有压片滑槽，压片滑槽设置在大光片样品孔和小光片样品孔的外周，压片滑槽内滑动连接压片，压片位于大样品托或小样品托的上方，压片上设有螺钉滑槽，螺钉滑槽内穿过定位螺钉，定位螺钉底部丝接在样品台上，用于控制压片在压片滑槽内移动并定位固定。

本实用新型具有以下有益效果：

本实用新型设计的用于分析不规则光片的电子探针样品台采用设计不同尺寸的光片样品孔，适用不同非标尺寸的光片，使得非标准尺寸光片能顺利进入电子探针腔室进行观测；设计的压片和光片顶丝等多种对光片样品的固定形式，对非标准尺寸的光片的固定形式多样；设计的样品托的底部设有调节凹槽，方便调节光片样品的高度，样品托的底部还设置水平调节螺钉，调节光片样品的水平。

附图说明