[实用新型]一种用于分析不规则光片的电子探针样品台

权利要求书

1.一种用于分析不规则光片的电子探针样品台，其特征在于，包括样品台以及设置在样品台上的大光片放样区和小光片放样区，所述大光片放样区设有大光片样品孔，大光片样品孔内安装有大样品托，大样品托上放置大光片样品；小光片放样区设有两个小光片样品孔，小光片样品孔内安装有小样品托，小样品托上放置小光片样品。

2.根据权利要求1所述的用于分析不规则光片的电子探针样品台，其特征在于，所述大光片样品孔的内壁设有螺纹，大样品托采用圆板状且外周设有螺纹，用于大样品托丝接在大光片样品孔内。

3.根据权利要求1所述的用于分析不规则光片的电子探针样品台，其特征在于，所述小光片样品孔的内壁设有螺纹，小样品托采用圆板状且外周设有螺纹，用于小样品托丝接在小光片样品孔内。

4.根据权利要求1所述的用于分析不规则光片的电子探针样品台，其特征在于，所述大光片样品孔的顶部和左右两侧且在工作台上设有螺纹孔，螺纹孔内丝接有光片顶丝一，光片顶丝一的端部顶在大光片样品上，用于光片顶丝一将大光片样品固定在大样品托上。

5.根据权利要求1所述的用于分析不规则光片的电子探针样品台，其特征在于，所述小光片样品孔的底部和外侧部且在工作台上设有螺纹孔，螺纹孔内丝接有光片顶丝二，光片顶丝二的端部顶在小光片样品上，用于光片顶丝二将小光片样品固定在小样品托上。

6.根据权利要求1所述的用于分析不规则光片的电子探针样品台，其特征在于，所述大样品托和小样品托的底部均设有调节凹槽和多个水平调节螺钉，调节凹槽通过螺丝刀调节大样品托或小样品托的高度，水平调节螺钉通过螺丝刀调节大光片样品或小光片样品的水平。

7.根据权利要求1所述的用于分析不规则光片的电子探针样品台，其特征在于，所述样品台上设有压片滑槽，压片滑槽设置在大光片样品孔和小光片样品孔的外周，压片滑槽内滑动连接压片，压片位于大样品托或小样品托的上方，压片上设有螺钉滑槽，螺钉滑槽内穿过定位螺钉，定位螺钉底部丝接在样品台上，用于控制压片在压片滑槽内移动并定位固定。