[实用新型]一种碳化硅用半导体封装设备有效
| 申请号: | 202220122738.5 | 申请日: | 2022-01-17 |
| 公开(公告)号: | CN216793612U | 公开(公告)日: | 2022-06-21 |
| 发明(设计)人: | 徐征 | 申请(专利权)人: | 深圳宏源开泰科技发展有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/56 | 分类号: | H01L21/56;B08B15/04 |
| 代理公司: | 深圳市恒和大知识产权代理有限公司 44479 | 代理人: | 汪少华 |
| 地址: | 518000 广东省深圳市龙*** | 国省代码: | 广东;44 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 碳化硅 半导体 封装 设备 | ||
本实用新型提供了一种碳化硅用半导体封装设备,涉及半导体技术领域,包括:箱体,设置于箱体内的蓄水腔,开设于箱体底部的开槽,设置于开槽内部、用于固定箱体的支撑组件,及设置于蓄水腔与箱体之间、用于处理有害气体的过滤组件。该种设备通过抽风机、通风管道、导气管和蓄水腔的配合使用,能够将胶水散发的气体抽入到蓄水腔内进行过滤,最大限度的减少有害气体的排放,避免被工作人员吸入,通过开槽、第二电动推杆、支撑板和橡胶垫的配合使用,能够增加箱体与地面的接触面积,同时使万向轮与地面分离,避免万向轮打滑而导致封装设备移动,影响封装作业。
技术领域
本实用新型涉及半导体技术领域,具体是碳化硅用半导体封装设备。
背景技术
半导体指常温下导电性能介于导体与绝缘体之间的材料,碳化硅是一种无机物,化学式为SiC,是用石英砂、石油焦、木屑等原料通过电阻炉高温冶炼而成,是半导体制作的常用材料。
半导体器件使用的过程中了为了防止粉尘掉落到半导体表面,导致半导体器件出现短路,因此在生产的过程中,对半导体进行封装处理,使半导体与外界进行隔绝,保护半导体器件。
半导体封装是指将通过测试的晶圆按照产品型号及功能需求加工得到独立芯片的过程,一般是将来自晶圆前道工艺的晶圆通过划片工艺后被切割为小的晶片,然后将切割好的晶片用胶水贴装到相应的基板架的小岛上,再利用超细的金属导线或者导电性树脂将晶片的接合焊盘连接到基板的相应引脚,并构成所要求的电路,然后通过点胶机对独立的晶片用塑料外壳加以封装保护。
而现有的封装设备进行封装时,由于点胶机滴出的胶水在高温的情况下会散发大量的有害气体,若直接被人吸入后,容易影响工作人员的身体安全,同时由于封装设备一般尺寸较大,市面上通常会通过加装万向轮等方式增强其灵活性,便于移动,然而这种方式并不容易固定,在移动封装设备时容易出现打滑等问题,影响半导体的封装作业。
实用新型内容
本实用新型旨在于解决背景技术中存在的缺点,提供碳化硅用半导体封装设备,通过抽风机、通风管道、导气管和蓄水腔的配合使用,能够将胶水散发的气体抽入到蓄水腔内进行过滤,最大限度的减少有害气体的排放,避免被工作人员吸入,通过开槽、第二电动推杆、支撑板和橡胶垫的配合使用,能够增加箱体与地面的接触面积,同时使万向轮与地面分离,避免万向轮打滑而导致封装设备移动,影响封装作业。
为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案,一种碳化硅用半导体封装设备,包括:
箱体;
设置于所述箱体内的蓄水腔;
开设于所述箱体底部的开槽;
设置于所述开槽内部、用于固定所述箱体的支撑组件;及
设置于所述蓄水腔与所述箱体之间、用于处理有害气体的过滤组件。
进一步的,所述箱体正面固定安装有控制面板,所述箱体正面安装有玻璃板,且所述玻璃板与蓄水腔相连接,所述箱体底部固定安装有多个万向轮。
进一步的,所述过滤组件包括:
开设于所述箱体内部的通风管道;
固定安装于所述通风管道内的抽风机;
固定连接于所述通风管道底部的导气管,且所述导气管底端插入到蓄水腔内,所述蓄水腔顶部固定连接有出气管,且所述出气管顶端凸出于箱体上表面。
进一步的,所述箱体一侧固定连接有进水管和出水管,且所述出水管位于进水管下方。
进一步的,所述箱体远离进水管的一侧开设有进气孔,且所述进气孔一侧固定安装有隔尘网。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳宏源开泰科技发展有限公司,未经深圳宏源开泰科技发展有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202220122738.5/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种电力工程线缆保护装置
- 下一篇:收割机控制总成
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





