[发明专利]一种用于开短路测试的继电器控制电路

说明书

本发明公开的一种用于开短路测试的继电器控制电路，包括主控芯片与若干个移位寄存器；若干个移位寄存器与主控芯片电性连接，若干个移位寄存器并列设置；主控芯片的输出端连接移位寄存器的输入端；主控芯片用于若干个移位寄存器的逻辑控制；移位寄存器用于控制继电器的开合，通过8位移位寄存器串转并的方式，节省了主控芯片GPIO的用量，可选择GPIO数量更少的主控芯片对继电器进行控制，减少了成本。

技术领域

本发明涉及继电器控制领域，更具体的，涉及一种用于开短路测试的继电器控制电路。

背景技术

开短路测试通常称为连接性或连续性测试，在集成电路或者电子模块测试中有广泛的运用，通过开短路测试能及早发现不良品，提高生产效率。对于被测引脚较多的集成电路或电子模块的开短路测试，需要通过轮询切换的方式进行测试，此时需要合适数量的继电器来进行切换，被测引脚越多，需要用到的继电器也越多，而每个继电器需要一个独立的控制信号来进行开合控制。

继电器的闭合与断开的切换控制一般通过外部芯片的输出引脚来实现，一个继电器需要一个单独的输出引脚控制，一般选择带有GPIO的主控芯片，比如单片机、FPGA或扩展GPIO芯片，如果继电器的数量很多，则需要选择拥有相应数量GPIO的主控芯片，或者多个这样的主控芯片进行组合。

被测产品的引脚很多时，需要很多的继电器进行开短路测试的切换，此时一般会采用拥有很多GPIO引脚的主控芯片或者多个这样的主控芯片进行组合，这不仅增加了成本，同时也由于芯片的引脚很多，芯片的体积也变大了，或者数量变多了，在面积一定的PCB上，增加了布局布线的难度。

发明内容

为了解决上述至少一个技术问题，本发明提出了一种用于开短路测试的继电器控制电路。

本发明第一方面提供了一种用于开短路测试的继电器控制电路，包括：主控芯片与若干个移位寄存器；

若干个所述移位寄存器与所述主控芯片电性连接，若干个所述移位寄存器并列设置；所述主控芯片的输出端连接所述移位寄存器的输入端；

所述主控芯片用于若干个所述移位寄存器的逻辑控制；

所述移位寄存器用于控制继电器的开合。

本发明一个较佳实施例中，所述主控芯片包括多个输出引脚，所述输出引脚输出控制信号用于控制移位寄存器。

本发明一个较佳实施例中，所述控制信号包括串行时钟信号、并行时钟信号、输出使能信号及清零信号中的一种或两种以上的组合。

本发明一个较佳实施例中，所述移位寄存器为8位移位寄存器，每一个移位寄存器均输出8路控制信号，每一路控制信号控制一个继电器。

本发明一个较佳实施例中，所述移位寄存器包括多个输入的控制引脚与一组输出引脚。

本发明一个较佳实施例中，所述继电器的输出信号电性连接有达林顿管，所述达林顿管用于电流的放大。

本发明一个较佳实施例中，所述移位寄存器为2个，两个所述移位寄存器连接有16个继电器。

本发明一个较佳实施例中，所述主控芯片为单片机、FPGA或扩展GPIO芯片中的一种。

本发明一个较佳实施例中，所述移位寄存器的芯片型号为74VHC595的逻辑芯片。

本发明的上述技术方案相比现有技术具有以下优点：

通过8位移位寄存器串转并的方式，节省了主控芯片GPIO的用量，可选择GPIO数量更少的主控芯片对继电器进行控制，减少了成本。

附图说明