[发明专利]一种用于开短路测试的继电器控制电路在审
| 申请号： | 202211717016.5 | 申请日： | 2022-12-29 |
| 公开（公告）号： | CN115980624A | 公开（公告）日： | 2023-04-18 |
| 发明（设计）人： | 刘曜轩;刘伟 | 申请（专利权）人： | 苏州威达智科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/52 | 分类号： | G01R31/52;G01R31/54;G01R15/12 |
| 代理公司： | 苏州翔远专利代理事务所(普通合伙) 32251 | 代理人： | 陆金星 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州市中国（*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 短路 测试 继电器 控制电路 | ||
1.一种用于开短路测试的继电器控制电路，包括：主控芯片与若干个移位寄存器；其特征在于，
若干个所述移位寄存器与所述主控芯片电性连接，若干个所述移位寄存器并列设置；所述主控芯片的输出端连接所述移位寄存器的输入端；
所述主控芯片用于若干个所述移位寄存器的逻辑控制；
所述移位寄存器用于控制继电器的开合。
2.根据权利要求1所述的一种用于开短路测试的继电器控制电路，其特征在于，所述主控芯片包括多个输出引脚，所述输出引脚输出控制信号用于控制移位寄存器。
3.根据权利要求2所述的一种用于开短路测试的继电器控制电路，其特征在于，所述控制信号包括串行时钟信号、并行时钟信号、输出使能信号及清零信号中的一种或两种以上的组合。
4.根据权利要求3所述的一种用于开短路测试的继电器控制电路，其特征在于，所述移位寄存器为8位移位寄存器，每一个移位寄存器均输出8路控制信号，每一路控制信号控制一个继电器。
5.根据权利要求1所述的一种用于开短路测试的继电器控制电路，其特征在于，所述移位寄存器包括多个输入的控制引脚与一组输出引脚。
6.根据权利要求4所述的一种用于开短路测试的继电器控制电路，其特征在于，所述继电器的输出信号电性连接有达林顿管，所述达林顿管用于电流的放大。
7.根据权利要求1所述的一种用于开短路测试的继电器控制电路，其特征在于，所述移位寄存器为2个，两个所述移位寄存器连接有16个继电器。
8.根据权利要求7所述的一种用于开短路测试的继电器控制电路，其特征在于，所述主控芯片为单片机、FPGA或扩展GPIO芯片中的一种。
9.根据权利要求1所述的一种用于开短路测试的继电器控制电路，其特征在于，所述移位寄存器的芯片型号为74VHC595的逻辑芯片。
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