[发明专利]一种用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法

权利要求书

1.一种用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，用次氯酸钠对待观察的胶片浸泡去除胶片上的明胶，留下附着卤化银颗粒的片基，对片基进行清洗，然后喷金制样，用于电镜观察。

2.根据权利要求1所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，所述使用的次氯酸钠浓度为5%~13%，所述用次氯酸钠去除明胶的时间为1~5分钟。

3.根据权利要求1所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，所述使用的次氯酸钠浓度为9%~11%，所述用次氯酸钠去除明胶的时间为1.5~2.5分钟。

4.根据权利要求1所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，所述卤化银颗粒的粒径大小范围100nm~400nm之间。

5.根据权利要求1所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，将待观察的胶片置于容器中，加入次氯酸钠，以去除胶片上的明胶，留下卤化银颗粒，取出晾干，再剪切成适合电镜观察的样品，喷金，用于电镜观察。

6.根据权利要求5所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，容器为烧杯，次氯酸钠加入量5-15mL。

7.根据权利要求6所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，次氯酸钠加入量为10mL。

8. 根据权利要求1所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，将待观察的胶片剪切为3 cm²-5cm²置于容器中。

9.根据权利要求1所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，将待观察的胶片剪切为2cm*2cm置于烧杯中。

10.根据权利要求1所述的用于扫描电镜观察卤化银颗粒的制样方法，其特征在于，喷金制样的附着卤化银颗粒的片基采用磁控溅射或蒸镀方法增强片基的导电性；磁控溅射或蒸镀的材质可为金、铬或碳，厚度为nm级别。