[发明专利]伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质在审

专利信息
申请号: 202211669365.4 申请日: 2022-12-24
公开(公告)号: CN115857475A 公开(公告)日: 2023-03-28
发明(设计)人: 王卓;刘丹;程炼;李朝波;赵启扬;张培喜;席茂军;杨贤哲;宋长哲 申请(专利权)人: 湖北航天技术研究院总体设计所
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225 代理人: 罗成
地址: 430040 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 伺服 机构 性能 测试 方法 装置 设备 可读 存储 介质
【说明书】:

发明提供一种伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质,伺服机构性能测试方法包括:调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量;基于CAN消息触发事件或状态触发事件采集反馈物理量,所述反馈物理量为伺服机构中的执行机构与所述控制物理量对应的反馈量;基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果;将性能测试界面窗口环境变量链接于所述数据处理结果,基于所述数据处理结果显示伺服机构性能指标对应物理量。本发明的伺服机构性能测试方法可根据测试灵活配置,且涉及到的测试设备通用便携。

技术领域

本发明涉及伺服机构测试技术领域,尤其涉及一种伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质。

背景技术

伺服机构性能测试在整个航天型号产品研制过程中具有非常重要的地位。通过伺服机构性能测试可以验证伺服机构是否满足性能指标要求,是确保航天型号产品飞行试验成功的保证。

目前航天型号产品的伺服机构性能测试方法一般通过设计专用测试工装,基于测试工装进行上位机和下位机软件开发,配合单机供电电源对伺服机构进行测试。由于各个不同航天型号产品的测试工装并不通用,使得测试设备重复投入,开发周期长,人力成本高。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种伺服机构性能测试方法、装置、设备及可读存储介质,旨在解决由于不同航天型号的伺服机构对应的测试工装并不通用,现有基于专用测试工装进行伺服机构性能测试的方式会导致测试成本高以及开发周期长的技术问题。

第一方面,本发明提供一种伺服机构性能测试方法,所述伺服机构性能测试方法包括以下步骤:

调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量;

基于CAN消息触发事件或状态触发事件采集反馈物理量,所述反馈物理量为伺服机构中的执行机构与所述控制物理量对应的反馈量;

基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果;

将性能测试界面窗口环境变量链接于所述数据处理结果,基于所述数据处理结果显示伺服机构性能指标对应物理量。

可选的,在所述调取伺服机构对应的数据库文件,按预设周期把性能测试界面控件上的输入信号通过数据库文件链接作为输入至伺服机构的控制物理量的步骤之前包括:

建立伺服机构对应的消息协议族;

基于所述消息协议族配置伺服机构对应的基础数据库;

对性能测试界面进行控件设置以及性能指标对应物理量的显示设置;

在对应编译环境下进行CAN消息触发事件与状态触发事件函数的预编译,其中,状态触发事件包括控件触发事件与定时器触发事件。

可选的,所述输入信号包括电压信号、电流信号以及角度信号;所述对应不同曲线类型的输入信号包括阶跃信号、正余弦信号、方波信号以及直线信号。

可选的,所述基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果的步骤包括:

若所述输入信号为阶跃信号,则基于所述反馈物理量,提取出斜率与半波震荡次数;

对比所述控制物理量与所述反馈物理量,确定输入信号响应的延迟,其中,数据处理结果包括所述斜率、半波震荡次数与输入信号响应的延迟。

可选的,所述基于不同曲线类型的输入信号对所述控制物理量与所述反馈物理量进行对应的数据处理,得到数据处理结果的步骤包括:

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