[发明专利]一种样品温控装置和样品温控方法在审
| 申请号: | 202211639319.X | 申请日: | 2022-12-20 |
| 公开(公告)号: | CN116088611A | 公开(公告)日: | 2023-05-09 |
| 发明(设计)人: | 赵春旺;钟嘉城;李瀚轩;黎梓朗;刘承鑫 | 申请(专利权)人: | 佛山科学技术学院 |
| 主分类号: | G05D23/24 | 分类号: | G05D23/24;G01N21/35 |
| 代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫 |
| 地址: | 528000 广*** | 国省代码: | 广东;44 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 样品 温控 装置 方法 | ||
本发明实施例公开了一种样品温控装置,包括控制设备、温控模块、样品温度传感器、控温片以及样品支持件;所述温控模块设有控制端、温度反馈端和电流输出端,所述控制设备与所述控制端相连接,所述样品温度传感器与所述样品支持件相连接,且所述样品温度传感器与所述温度反馈端相连接;所述控温片与所述电流输出端相连接,且所述控温片覆盖所述样品支持件的底面,以使所述控温片随所述电流输出端通入的正向电流而朝所述样品支持件方向加热,或所述控温片随所述电流输出端通入的反向电流而朝所述样品支持件方向制冷。另一方面,本发明还公开了一种样品温控方法,包括上述样品温控装置。采用本发明,具有操作方便,快速精准的实现双向控温的优点。
技术领域
本发明涉及检测设备技术领域,尤其涉及一种样品温控装置和样品温控方法。
背景技术
傅里叶变换红外光谱仪可以测量各种固体、液体、气体样品的吸收光谱,依据光谱峰位、波数、峰形等特征对样品的成分进行鉴别,已被广泛应用于医药化工、地矿、石油、煤炭、环保、海关、宝石鉴定、刑侦鉴定等诸多领域。
一些样品如相变材料在不同的温度具有不同的吸收光谱,在使用傅里叶变换红外光谱仪对这类材料进行测试时需要对样品进行加热或制冷,从而需要使用控温装置对样品的温度进行控制。目前,已经有一些加热技术能实现对样品进行加热操作,例如发明专利CN106153568A采用电热丝对样品加热、发明专利CN111289439A采用陶瓷加热环对样品加热,但这些加热方式不够精准,只能单向加热、不能制冷;发明专利CN106596244A虽然能实现加热/制冷双向控温,但所采用的气体吹扫制冷的方式操作繁复、降温缓慢、难以控温。
发明内容
本发明实施例所要解决的技术问题在于,提供一种样品温控装置和样品温控方法,能够操作方便,快速精准的实现双向控温。
为解决上述技术问题,本发明实施例提供了一种样品温控装置,包括控制设备、温控模块、用于测定样品温度的样品温度传感器、用于控制样品温度的控温片以及用于放置样品的样品支持件;
所述温控模块设有控制端、温度反馈端和电流输出端,所述控制设备与所述控制端相连接,所述样品温度传感器与所述样品支持件相连接,且所述样品温度传感器与所述温度反馈端相连接;
所述控温片与所述电流输出端相连接,且所述控温片覆盖所述样品支持件的底面,以使所述控温片随所述电流输出端通入的正向电流而朝所述样品支持件方向加热,或所述控温片随所述电流输出端通入的反向电流而朝所述样品支持件方向制冷。
优选地,所述控温片内设有P型半导体层和N型半导体层,所述P型半导体层靠近于所述样品支持件的底面,所述N型半导体层远离所述样品支持件的底面;所述正向电流为电流由所述N型半导体层流向P型半导体层,所述反向电流为电流由所述P型半导体层流至所述N型半导体层。
优选地,所述样品温控装置还包括直流电源,所述温控模块还设有电流输入端,所述直流电源与所述电流输入端相连接。
优选地,所述样品温度传感器设有螺纹传感探头,所述样品支持件的侧部设有螺孔,所述螺纹传感探头由所述螺孔插进所述样品支持件内,以使所述螺纹传感探头靠近样品并稳固;所述螺纹传感探头采用热敏电阻制成。
优选地,所述样品温控装置还包括环境温度传感器,所述温控模块设有温度输入端,所述环境温度传感器与所述温度输入端相连接。
优选地,所述样品支持件为环状结构,所述环状结构包括用于放置样品的环心,所述螺孔靠近于所述环心。
优选地,所述样品温控装置还包括插板,所述控温片和样品支持件依次设在所述插板上,且所述插板的尺寸大于样品支持件的尺寸;所述插板和所述样品支持件之间通过螺丝件或/和绑条连接。
另一方面,本发明提供一种样品温控方法,运用上述的样品温控装置,包括如下步骤:
控制设备根据用户指令获得目标温度;
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