[发明专利]一种转向架位姿检测、校正方法及其系统

权利要求书

1.一种转向架位姿检测、校正方法，其特征在于，包括：

将待测转向架放置于转向架支架时，通过图像采集设备采集转向架位姿图像；

基于所述转向架位姿图像和预设转向架标准图像计算转向架偏移参数；

在所述转向架偏移参数高于预设阈值时，将所述转向架偏移参数转换为偏移坐标并传输至纠偏单元；

所述纠偏单元支撑所述待测转向架脱离所述转向架支架，并基于所述偏移坐标调整所述待测转向架位姿后，将所述待测转向架重新放置于所述转向架支架。

2.根据权利要求1所述的转向架位姿检测、校正方法，其特征在于，基于所述转向架位姿图像和预设转向架标准图像计算转向架偏移参数，包括：

分别对所述转向架位姿图像和所述预设转向架标准图像进行Surf特征检测，提取出所述转向架位姿图像和所述预设转向架标准图像的Surf特征点；

基于所述转向架位姿图像和所述预设转向架标准图像的Surf特征点进行特征匹配生成匹配点；

基于随机样本一致性算法对匹配点进行一次过滤后，基于均方差过滤算法对所述匹配点进行二次过滤；

基于二次过滤后的所述匹配点生成旋转矩阵和平移矩阵构成的转向架偏移参数。

3.根据权利要求1所述的转向架位姿检测、校正方法，其特征在于，所述转向架位姿检测、校正方法还包括：

在纠偏单元将调整位姿后的所述待测转向架重新放置于所述转向架支架时，图像采集设备重新采集转向架位姿图像，并重新基于所述转向架位姿图像和预设转向架标准图像计算转向架偏移参数，若转向架偏移参数仍大于预设阈值，则基于所述纠偏单元继续调整所述待测转向架的位姿。

4.根据权利要求1所述的转向架位姿检测、校正方法，其特征在于，所述纠偏单元支撑所述待测转向架脱离所述转向架支架，并基于所述偏移坐标调整所述待测转向架位姿，包括：

所述纠偏单元的升降机构支撑所述待测转向架脱离所述转向架支架；

所述纠偏单元基于所述偏移坐标控制周向位移机构、第一位移机构和第二位移机构移动以调整所述待测转向架位姿。

5.一种转向架位姿检测、校正系统，其特征在于，包括：

转向架支架，用于放置待测转向架，并采集转向架位姿图像；

数据处理单元，用于基于所述转向架位姿图像和预设转向架标准图像计算转向架偏移参数，在所述转向架偏移参数高于预设阈值时，将所述转向架偏移参数转换为偏移坐标并传输至纠偏单元；

所述纠偏单元，用于在转向架偏移参数高于预设阈值时，支撑所述待测转向架脱离所述转向架支架，并基于所述偏移坐标调整所述待测转向架位姿后，将所述待测转向架重新放置于所述转向架支架。

6.根据权利要求5所述的转向架位姿检测、校正系统，其特征在于，所述纠偏单元包括升降机构、周向位移机构、第一位移机构和第二位移机构，其中，

在所述数据处理单元将偏移坐标并传输至所述纠偏单元时，所述升降机构支撑所述待测转向架脱离所述转向架支架，所述纠偏单元基于所述偏移坐标控制周向位移机构、第一位移机构和第二位移机构移动以调整所述待测转向架位姿。

7.根据权利要求6所述的转向架位姿检测、校正系统，其特征在于，所述周向位移机构与升降机构连接，所述周向位移机构具有用于驱动其相对于纠偏单元转动的周向动力机构，所述周向位移机构的转动平面垂直于升降机构的升降方向所在直线；所述第一位移机构与周向位移机构滑动连接，所述第一位移机构具有用于驱动其在第一方向上直线往复运动的第一动力机构；以及所述第二位移机构与第一位移机构滑动连接，所述第二位移机构具有用于驱动其在第二方向上直线往复运动的第二动力机构。

8.根据权利要求5所述的转向架位姿检测、校正系统，其特征在于，所述转向架支架上设置有图像采集设备，用于采集所述转向架位姿图像。

9.根据权利要求5所述的转向架位姿检测、校正系统，其特征在于，所述数据处理单元通过分别对所述转向架位姿图像和所述预设转向架标准图像进行Surf特征检测，提取出所述转向架位姿图像和所述预设转向架标准图像的Surf特征点后，基于所述转向架位姿图像和所述预设转向架标准图像的Surf特征点进行特征匹配生成匹配点，并基于随机样本一致性算法对匹配点进行一次过滤后，基于均方差过滤算法对所述匹配点进行二次过滤，从而基于二次过滤后的所述匹配点生成旋转矩阵和平移矩阵构成的转向架偏移参数。