[发明专利]一种基板减薄装置在审
申请号: | 202211546041.1 | 申请日: | 2022-12-05 |
公开(公告)号: | CN115771076A | 公开(公告)日: | 2023-03-10 |
发明(设计)人: | 杨晓良;刘远航;张胜;付永旭 | 申请(专利权)人: | 华海清科股份有限公司 |
主分类号: | B24B7/22 | 分类号: | B24B7/22;B24B27/00;B24B49/00;B24B55/00 |
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地址: | 300350 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基板减薄 装置 | ||
本发明公开了一种基板减薄装置,其包括:基座;减薄模块,设置于基座的上部;转盘,设置于基座上部并位于减薄模块的侧部;所述转盘的上方配置有载置基板的吸盘;还包括位置校核组件,其包括旋转部、摆臂和测量部,所述摆臂的一端连接于所述旋转部,摆臂的另一端设置有测量部;所述测量部配置有检测传感器,其能够通过摆臂移动至吸盘上方;减薄模块的砂轮朝向测量部移动,使得测量部的检测传感器与吸盘抵接;所述检测传感器触发所述砂轮停止下移的信号,以获取砂轮与吸盘之间的距离。
技术领域
本发明属于基板减薄技术领域,具体而言,涉及一种基板减薄装置。
背景技术
基板在被分割为半导体芯片之前,通过减薄加工装置来磨削形成有电子电路器件相反侧的背面,从而将基板减薄至预定的厚度。减薄加工装置中,砂轮的移动位置至关重要,需要定期对砂轮的位置进行手动校核,这在一定程度行影响了砂轮位置校核的效率。
现有的砂轮位置校核组件,结构复杂,在砂轮位置校核时,测量模块容易倾斜而卡顿,进而影响位置检测的精度。此外,现有的砂轮位置校核组件长期暴露于切削液与磨屑之中,其表面会附着磨削屑,这也会影响砂轮位置的校核精度。
发明内容
本发明实施例提供了一种基板减薄装置,旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。
本发明的实施例提供了一种基板减薄装置,包括:
基座;
减薄模块,设置于基座的上部;
转盘,设置于基座上部并位于减薄模块的侧部;所述转盘的上方配置有载置基板的吸盘;
还包括位置校核组件,其包括旋转部、摆臂和测量部,所述摆臂的一端连接于所述旋转部,摆臂的另一端设置有测量部;所述测量部配置有检测传感器,其能够通过摆臂移动至吸盘上方;减薄模块的砂轮朝向测量部移动,使得测量部的检测传感器与吸盘抵接;所述检测传感器触发所述砂轮停止下移的信号,以获取砂轮与吸盘之间的距离。
在一些实施例中,所述摆臂与所述测量部柔性连接。
在一些实施例中,所述摆臂通过连杆铰接于所述测量部,使得所述测量部能够沿竖直方向适应性移动。
在一些实施例中,所述位置校核组件还包括弹簧,所述弹簧连接于所述摆臂与连杆之间;所述弹簧的数量为一对,其对称设置于所述连杆的两侧。
在一些实施例中,所述旋转部包括转轴和旋转气缸,所述转轴设置于所述旋转气缸的上方,所述摆臂设置于所述转轴的上端。
在一些实施例中,所述测量部的顶部配置有耐磨垫,所述耐磨垫由聚四氟乙烯制成。
在一些实施例中,所述测量部还配置有限位传感器,其与所述检测传感器间隔设置;并且,所述限位传感器的安装位置高于所述检测传感器的安装位置。
在一些实施例中,所述位置校核组件还包括防护罩,其设置于所述吸盘的外侧;所述防护罩的设置位置与所述摆臂的位置相匹配。
在一些实施例中,所述防护罩的侧部配置有开关门,其铰接于所述防护罩,所述摆臂经由所述开关门进出所述防护罩。
在一些实施例中,所述摆臂的顶部配置有限位件,所述摆臂及其连接的测量部位于所述防护罩外侧时,所述限位件的至少部分承托所述开关门,使得所述开关门处于打开状态。
本发明的有益效果包括:
a.摆臂通过四杆机构连接于测量部,四杆机构中的连杆配置有弹簧,以提升测量部竖向移动的顺畅性,避免测量部发生倾斜,保证砂轮位置校核的准确性;
b.测量部配置检测传感器和限位传感器,以对砂轮位置校核形成双层保护,避免砂轮和吸盘硬性抵压于测量部;
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