[发明专利]一种测绘装置、测绘方法及计算机设备在审

专利信息
申请号: 202211545282.4 申请日: 2022-12-05
公开(公告)号: CN115585790A 公开(公告)日: 2023-01-10
发明(设计)人: 远国勤;郑丽娜;袁东明;刘学吉;张赫;宋来运 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01C11/02 分类号: G01C11/02;G01C11/06
代理公司: 长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙) 22218 代理人: 陈陶
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要:
搜索关键词: 一种 测绘 装置 方法 计算机 设备
【说明书】:

本发明属于航空测绘领域,具体提供一种测绘装置、测绘方法及计算机设备,包括有效载荷以及具有球状结构的复合框架,复合框架包括俯角驱动及轴系、位角驱动及轴系、承力内框架、半球形上盖以及半球形下盖,俯角驱动及轴系用于带动有效载荷进行俯仰方向上转动,位角驱动及轴系用于带动有效载荷进行横滚方向上转动,承力内框架用于承载有效载荷,半球形上盖、承力内框架和半球形下盖形成球状结构,采用一体化内埋式设计,易于实现密封设计,环境稳定性好,流线型设计,空气阻力小,便于控制,适合于多种测绘应用场景。

技术领域

本发明涉及航空测绘领域,特别涉及一种测绘装置、测绘方法及计算机设备。

背景技术

传统的摄影测量过程中,测量相机通过稳定平台安装在载机中构成对地测量,测量相机借助于飞机的前向飞行对地成像,基高比与单航带覆盖宽度只与测量相机的探测器在飞行方向及垂直飞行方向的尺寸线性相关,大基高比测量及宽幅成像时需要大幅面探测器,而受限于探测器制作水平,目前情况下,探测器幅面尺寸有限,难以实现大基高比、宽幅面测绘。

为了解决上述问题,出现了多探测器拼接方案,借助多个探测器拼接提升基高比及测量精度,但容易导致测量相机体积、重量较大,且成本昂贵。随着探测器技术的发展,虽然探测器幅面尺寸未取得突破性进展,但探测器帧频、数据读出速率等参数取得了快速的发展,本发明提出了利用探测器容易实现的“时间”特性,达到不容易实现的“大幅面”特性的等效效果,通过“时间”换取“空间”,在小幅面探测器的情况下,通过高帧频、快速数据读取,实现等效大基高比、高效率测量。

中国专利公开CN 111272146 B《测绘仪器、测绘方法及装置、终端设备、存储介质》中提出了一种针对高空远距离倾斜高精度测绘的方法及装置,提出的方法为了解决现有方法中受限于探测器幅面,高空远距离高精度测绘时效率和精度较低的问题,提出了一种基于二维复合框架及载荷外露式设计的测绘方法和装置,通过特定的摆扫运动实现了工作效率和基高比的提升,并可以在不过顶的情况下对目标区域进行高精度测量的问题,该专利同时给出了方案的实施方法与装置。该装置中光电载荷与复合框架处于分裂式设计模式,存在如下问题:首先由于需要宽幅大倾斜测绘,该载荷在机上难以实现内埋式安装,而该方案所示的实施装置中成像载荷与复合框架未进行一体化设计,光电载荷采用外露式安装在复合框架上,导致相机作业过程中当飞机飞行速度较大时,外露部分风阻较大,载荷工作时俯仰向摆扫受风阻影响极大,容易出现复合框架受风阻影响偏向一侧、无法按照既定规律进行摆扫运动的情况,严重时甚至会导致轴系卡死、电机烧坏等现象,因此该方案并不适用于低空、中低空、中高空等飞机飞行速度较大、风阻较大的应用场景;其次上述专利披露的实施方案中,复合框架中内框相对于外框在俯仰向运动角度极其有限,大角度俯仰成像过程中将出现干涉等现象,限制了载荷的工作范围,影响了大基高比应用,且对目标测量的基线显著受限于俯仰向运动角度,难以实现区域凝视成像;最后,上述专利披露的图像处理中给出了“合成画幅”的概念,图像处理过程中需要首先合成“合成画幅”,然后再进行图像同名点匹配、空三生产等过程,图像处理过程繁琐。

发明内容

有鉴于此,本发明实施例中提供一种测绘装置、测绘方法及计算机设备。

第一方面,本发明提供一种测绘装置,包括:

有效载荷,用于进行测绘;

具有球状结构的复合框架,用于承载所述有效载荷,所述复合框架包括俯角驱动及轴系、位角驱动及轴系、承力内框架、半球形上盖以及半球形下盖,所述俯角驱动及轴系用于带动所述有效载荷进行俯仰方向上转动,所述位角驱动及轴系用于带动所述有效载荷进行横滚方向上转动,所述半球形下盖上具有工作窗口,所述承力内框架用于承载所述有效载荷,所述半球形上盖、所述承力内框架和所述半球形下盖形成所述球状结构。

作为一种可选的方案,所述有效载荷包括光学成像组件、惯性测量组件以及激光测距仪,所述光学成像组件、所述惯性测量组件以及所述激光测距仪均固定在所述承力内框架上。

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