[发明专利]光学膜片的光轴角度的检测方法及膜片贴合工艺

说明书

本发明提供了光学膜片的光轴角度的检测方法及膜片贴合工艺。所述检测方法包括步骤：将所述光学膜片利用夹具夹设于所述夹具和旋转装置之间并覆盖所述旋转装置的透光孔；控制光源单元发出光线；控制检测器检测透过光强；基于所述旋转装置的旋转角度数据和所述检测器测得的透过光强数据通过数据拟合的方式得到所述光轴角度。本发明的检测方法可以在提高检测效率的同时保证检测精度。所述膜片贴合工艺包括步骤：对待贴合的多个光学膜片进行在线轴角检测，得到所述多个光学膜片的光轴角度；获取所述多个光学膜片的尺寸信息；基于所述光轴角度和所述尺寸信息贴合所述多个光学膜片。本发明的膜片贴合工艺提高了各个功能性光学膜片的对位精度。

技术领域

本发明涉及光学膜片以及虚拟现实/增强现实/混合现实技术领域，具体地，涉及一种光学膜片的光轴角度的检测方法及膜片贴合工艺。

背景技术

目前在虚拟现实(Virtual Reality，VR)领域内，用于吸收型偏光片、反射型偏光片及位相膜等光学膜片贴合的光轴的检测方式大致可分为两类。一类是视觉对位，即利用光学膜片的物理特性进行贴合，该方式一般依赖于光学膜片的出厂特性，贴合精度为±1-2°。目前在VR领域内，超短焦光学折叠光路(pancake)方案由于其体积小型化，重量轻型化而更能满足市场需求。而pancake VR方案对光学膜片的贴合精度要求更高，该方式已无法满足市场需求。另一类是利用光学膜片的偏振特性进行光轴的二次检测，该方式可以提高光学膜片的贴合精度，但目前的光轴的二次检测受到检测光源、检测器的影响较大，这种检测往往需要使光学膜片旋转360°，检测出光强最值点进而判定其为光轴，该最值点处受光强波动的影响大，检测精度难以保证，且存在耗时较久，无法集成到流水线工艺，仅能用于科研及实验用途等缺点。

同时，pancake方案其对应的模组在生产过程中涉及到多层光学膜片的贴合。目前多层光学膜片的贴合通常是使用光学镜头识别物理边来对位，存在贴合精度低，杂散光多，漏光多，显示效果较差的问题。

因此，需要提供改进的用于VR领域、虚拟现实(Augmented Reality，AR)领域、或者混合现实(Mixed Reality，MR)领域的光学膜片的光轴角度的检测方法及膜片贴合工艺，以克服或减少上述现有技术中所存在的至少一部分缺点。

发明内容

本发明的第一方面提供了一种光学膜片的光轴角度的检测方法，检测方法包括以下步骤：

将光学膜片利用夹具夹设于夹具和旋转装置之间并覆盖旋转装置的透光孔，以使光学膜片随旋转装置的旋转而旋转；

控制光源单元朝向光学膜片发出光线；

控制设置在旋转装置的下游的检测器检测光源单元发出的光线透过透光孔、光学膜片后的透过光强；

基于旋转装置的旋转角度数据和检测器测得的透过光强数据通过数据拟合的方式得到光轴角度。

可选地，检测方法中，控制旋转装置间歇旋转，控制检测器在旋转装置的间歇旋转的停止间隙检测透过光强。

可选地，控制旋转装置间歇旋转的步骤包括：控制旋转装置每旋转预设的单次旋转角度后，停止预设时间段，重复前述步骤，直至旋转装置旋转过的角度达到预设的总旋转角度阈值。

可选地，检测器包括：主检测器和至少一个辅检测器，其中，主检测器和至少一个辅检测器分别用于检测透过光强；

基于旋转装置的旋转角度数据和检测器测得的透过光强数据通过数据拟合的方式得到光轴角度的步骤包括：

将主检测器检测得到的透过光强数据中的每一个分别与辅检测器检测得到的透过光强数据中对应的一个进行比值处理；

基于得到的比值数据和旋转装置的旋转角度数据通过数据拟合的方式得到光轴角度。