[发明专利]光学膜片的光轴角度的检测方法及膜片贴合工艺

权利要求书

1.一种光学膜片的光轴角度的检测方法，其特征在于，所述检测方法包括以下步骤：

将所述光学膜片利用夹具夹设于所述夹具和旋转装置之间并覆盖所述旋转装置的透光孔，以使所述光学膜片随所述旋转装置的旋转而旋转；

控制光源单元朝向所述光学膜片发出光线；

控制设置在所述旋转装置的下游的检测器检测所述光源单元发出的光线透过所述透光孔、所述光学膜片后的透过光强；

基于所述旋转装置的旋转角度数据和所述检测器测得的透过光强数据通过数据拟合的方式得到所述光轴角度。

2.根据权利要求1所述的检测方法，其特征在于，

所述检测方法中，控制所述旋转装置间歇旋转，控制所述检测器在所述旋转装置的间歇旋转的停止间隙检测所述透过光强。

3.根据权利要求2所述的检测方法，其特征在于，所述控制所述旋转装置间歇旋转的步骤包括：

控制所述旋转装置每旋转预设的单次旋转角度后，停止预设时间段，重复前述步骤，直至所述旋转装置旋转过的角度达到预设的总旋转角度阈值。

4.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，所述检测器包括：主检测器和至少一个辅检测器，其中，所述主检测器和所述至少一个辅检测器分别用于检测所述透过光强；

所述基于所述旋转装置的旋转角度数据和所述检测器测得的透过光强数据通过数据拟合的方式得到所述光轴角度的步骤包括：

将所述主检测器检测得到的透过光强数据中的每一个分别与所述辅检测器检测得到的透过光强数据中对应的一个进行比值处理；

基于得到的比值数据和所述旋转装置的旋转角度数据通过数据拟合的方式得到所述光轴角度。

5.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，所述基于所述旋转装置的旋转角度数据和所述检测器测得的透过光强数据通过数据拟合的方式得到所述光轴角度的步骤包括：

利用第一内建函数拟合计算得到理论透过光强最小值对应的旋转角度，即为所述光轴角度，其中，所述光轴角度是所述光学膜片的光轴与所述偏振光源的偏振光轴的夹角的角度；其中，

所述第一内建函数为：

y＝Asin(Bx+C)+D，

式中，x为旋转角度，y为透过光强，A、B、C、D为常数。

6.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，

所述光源单元包括偏振光源和校正元件，所述校正元件为光轴方向已标定为T的起偏器且设置于所述偏振光源的下游；

所述检测方法中，控制所述旋转装置为从方向T开始旋转；

所述基于所述旋转装置的旋转角度数据和所述检测器测得的透过光强数据通过数据拟合的方式得到所述光轴角度的步骤包括：

利用第二内建函数拟合计算得到透过光强为0时对应的所述旋转装置相对方向T旋转的角度，即为光轴角度，其中，所述光轴角度是所述光学膜片的光轴与所述方向T的夹角的角度；其中，

所述第二内建函数为：

I＝I₀cos²(θ+t)，

式中，I为透过光强，I₀、t为常量参数，θ为所述旋转装置相对方向T旋转的角度。

7.根据权利要求1或2所述的检测方法，其特征在于，在将所述光学膜片和所述旋转装置固定的步骤之后，所述检测方法还包括如下步骤：

控制设置在所述旋转装置的下游、所述检测器的上游的CCD图像传感器启动以记录所述光学膜片的尺寸信息。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，所述得到所述光轴角度的步骤之后，所述检测方法还包括如下步骤：

基于所述光轴角度和所述尺寸信息对所述光学膜片进行标定。

9.一种膜片贴合工艺，其特征在于，所述膜片贴合工艺包括以下步骤：

对待贴合的多个光学膜片进行在线轴角检测，得到所述多个光学膜片的光轴角度；

获取所述多个光学膜片的尺寸信息；

基于所述光轴角度和所述尺寸信息贴合所述多个光学膜片。