[发明专利]检测PD镜头阴影校正效果的方法、装置、介质及设备

说明书

本发明提供了一种检测PD镜头阴影校正效果的方法、装置、介质及设备，方法包括：获取目标图片以及感光芯片中遮蔽像素点PD信息；所述目标图片为利用快速对焦功能的镜头拍摄的图片；基于所述PD信息对所述目标图片进行解析，获得第一PD图像和第二PD图像；根据所述第一PD图像和所述第二PD图像确定差值图像；根据所述差值图像对镜头阴影校正效果进行检测；如此，由于对镜头进行镜头阴影校正时，相当于是对PD点做均匀性校正，因此在基于第一PD图像和第二PD图像的差值图像对校正效果进行检测时，可确保检测精度。

技术领域

本申请涉及摄像模组检测技术领域，尤其涉及一种检测PD镜头阴影校正效果的方法、装置、介质及设备。

背景技术

PD镜头是使用具有PD点的感光芯片的镜头，其中，PD点是预留在感光芯片上呈规律性对称的一些遮蔽像素点，利用PD点可实现PD镜头的快速对焦。由于镜头具有光学特性，在镜头成像过程中，镜头对于光学折射不均匀会导致镜头周围出现阴影的情况，拍摄的图像会产生一些边角失光的现象，进而影响图片质量。

为确保图片质量，目前一般会使用镜头阴影校正技术(LSC，Lens ShadingCorrection)对图像进行校正，那么相应地需要对镜头阴影校正效果进行检测，判断是否校正精度是否满足需求。

相关技术中，一般是使用感光芯片厂商提供的检测方法进行检测，但是实际应用中发现，镜头阴影校正效果的检测精度无法确保，经常会出现镜头检测合格但是拍摄出的图片不合格的情形。

因此，亟需一种检测镜头阴影校正效果的方法来解决上述问题。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明实施例提供了一种检测PD镜头阴影校正效果的方法、装置、介质及设备，以解决或者部分解决现有技术中在检测镜头阴影校正效果时，检测精度无法确保的技术问题。

本发明的第一方面，提供一种检测PD镜头阴影校正效果的方法，所述方法包括：

获取目标图片以及感光芯片中遮蔽像素点PD信息；所述目标图片为利用快速对焦功能的镜头拍摄的图片；

基于所述PD信息对所述目标图片进行解析，获得第一PD图像和第二PD图像；

根据所述第一PD图像和所述第二PD图像确定差值图像；

根据所述差值图像对镜头阴影校正效果进行检测。

上述方案中，所述基于所述PD信息对所述目标图片进行解析，获得第一PD图像，包括：

确定每个PDBlock存储块中包含的左侧PD点的行数以及每行包含的左侧PD点数量；每个PDBlock中包含的各PD点的位置及数量是相同的；

基于所述PD信息、第一个PDBlock存储块中包含的左侧PD点的行数以及每行包含的左侧PD点数量确定第一个PDBlock中各左侧PD点坐标；

基于所述第一个PDBlock中各左侧PD点坐标确定剩余PDBlock中的左侧PD点坐标；

基于所有PDBlock中的各左侧PD点坐标提取对应位置的PD点像素，形成第一PD图像。

上述方案中，所述基于所述PD信息、第一个PDBlock存储块中包含的左侧PD点的行数以及每行包含的左侧PD点数量确定第一个PDBlock中各左侧PD点坐标，包括：

基于所述PD信息确定出第一个PDBlock中各左侧PD点相对于目标图片原点的X轴相对坐标以及Y轴相对坐标；

基于所述X轴相对坐标以及各所述左侧PD点在x方向上的起始偏移确定每个左侧PD点的横坐标；

基于所述Y轴相对坐标以及各所述左侧PD点在y方向上的起始偏移确定每个左侧PD点的纵坐标。