[发明专利]检测PD镜头阴影校正效果的方法、装置、介质及设备

权利要求书

1.一种检测PD镜头阴影校正效果的方法，其特征在于，所述方法包括：

获取目标图片以及感光芯片中遮蔽像素点PD信息；所述目标图片为利用快速对焦功能的镜头拍摄的图片；

基于所述PD信息对所述目标图片进行解析，获得第一PD图像和第二PD图像；

根据所述第一PD图像和所述第二PD图像确定差值图像；

根据所述差值图像对镜头阴影校正效果进行检测。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述PD信息对所述目标图片进行解析，获得第一PD图像，包括：

确定每个PDBlock存储块中包含的左侧PD点的行数以及每行包含的左侧PD点数量；每个PDBlock中包含的各PD点的位置及数量是相同的；

基于所述PD信息、第一个PDBlock存储块中包含的左侧PD点的行数以及每行包含的左侧PD点数量确定第一个PDBlock中各左侧PD点坐标；

基于所述第一个PDBlock中各左侧PD点坐标确定剩余PDBlock中的左侧PD点坐标；

基于所有PDBlock中的各左侧PD点坐标提取对应位置的PD点像素，形成第一PD图像。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述PD信息、第一个PDBlock存储块中包含的左侧PD点的行数以及每行包含的左侧PD点数量确定第一个PDBlock中各左侧PD点坐标，包括：

基于所述PD信息确定出第一个PDBlock中各左侧PD点相对于目标图片原点的X轴相对坐标以及Y轴相对坐标；

基于所述X轴相对坐标以及各所述左侧PD点在x方向上的起始偏移确定每个左侧PD点的横坐标；

基于所述Y轴相对坐标以及各所述左侧PD点在y方向上的起始偏移确定每个左侧PD点的纵坐标。

4.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一个PDBlock中各左侧PD点坐标确定剩余PDBlock中的左侧PD点坐标，包括：

获取每个剩余PD存储块的序号；

根据第一个PDBlock中各左侧PD点坐标、所述每个剩余PDBlock的序号以及每个PD存储块内的x方向上的像素数量对应确定剩余PDBlock中所有左侧PD点坐标。

5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，所述根据第一个PDBlock中各左侧PD点坐标、所述每个剩余PDBlock的序号以及每个PD存储块内的x方向上的像素数量对应确定剩余PDBlock中所有左侧PD点坐标，包括：

根据公式P_i′＝P_i*n+PD_PITCH_X确定剩余PDBlock中的左侧PD点坐标P_i′；其中，

P_i为第一个PD存储块中存储的各左侧PD点坐标，所述i为每个PDBlock中左侧PD点的序号，所述n为每个PDBlock的序号，所述PD_PITCH_X为每个PDBlock内的x方向上的像素数量。

6.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述第一PD图像和所述第二PD图像确定差值图像，包括：

获取所述第一PD图像中每个像素的第一亮度值以及获取所述第二PD图像中每个像素的第二亮度值；

获取所述第一亮度值及所述第二亮度值的亮度差值绝对值，根据所述亮度差值绝对值获得差值图像。

7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述差值图像对镜头阴影校正效果进行检测，包括：

对所述差值图像进行膨胀，获得膨胀后的差值图像；

对膨胀后的差值图像进行二值化处理，获得二值化差值图像；

对二值化差值图像进行腐蚀处理，获得腐蚀后的二值化差值图像；

获取所述腐蚀后的二值化差值图像中的亮点数量，若确定所述亮点数量大于预设的阈值，则确定镜头阴影校正效果不合格。