[发明专利]激光探测装置的探测方法、激光探测装置及存储介质有效

专利信息
申请号: 202211463839.X 申请日: 2022-11-17
公开(公告)号: CN115616595B 公开(公告)日: 2023-04-04
发明(设计)人: 谢进文 申请(专利权)人: 深圳市速腾聚创科技有限公司
主分类号: G01S17/32 分类号: G01S17/32;G01S17/58;G01S7/48
代理公司: 北京恒博知识产权代理有限公司 11528 代理人: 向武桥
地址: 518000 广东省深圳市南山区桃源街道平*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 激光 探测 装置 方法 存储 介质
【权利要求书】:

1.一种激光探测装置的探测方法,其特征在于,包括:

控制第一激光器在每个扫频周期生成第一三角波信号,其中,所述第一三角波信号的扫频斜率大小为第一斜率,所述扫频周期包括顺次连接的第一扫频时间与第二扫频时间;

控制第二激光器在每个所述扫频周期生成第二三角波信号,其中,所述第二三角波信号与所述第一三角波信号的扫频方向相反,所述第二三角波信号的扫频斜率大小为第二斜率,所述第二斜率小于所述第一斜率;

控制光电探测模块接收第一本振信号、第一探测信号经目标物体反射形成的第一回波信号,第二本振信号,以及第二探测信号经目标物体反射形成的第二回波信号,其中,所述第一本振信号与所述第一探测信号为所述第一三角波信号分束形成的两信号,所述第一本振信号包括位于所述第一扫频时间的第一上扫本振信号与位于所述第二扫频时间的第二下扫本振信号,所述第一回波信号包括位于所述第一扫频时间的第一上扫回波信号与位于所述第二扫频时间的第二下扫回波信号,所述第二本振信号与所述第二探测信号为所述第二三角波信号分束形成的两信号,所述第二本振信号包括位于所述第一扫频时间的第一下扫本振信号与位于所述第二扫频时间的第二上扫本振信号,所述第二回波信号包括位于所述第一扫频时间的第一下扫回波信号与位于所述第二扫频时间的第二上扫回波信号;

获取第一频率与第二频率,其中,所述第一频率为第一拍频信号的频率与第二拍频信号的频率中较高的一个,所述第二频率为所述第一拍频信号的频率与所述第二拍频信号的频率中较低的一个,所述第一拍频信号为所述第一上扫本振信号与所述第一上扫回波信号的拍频信号,所述第二拍频信号为所述第一下扫本振信号与所述第一下扫回波信号的拍频信号;

获取第三频率与第四频率,其中,所述第三频率为第三拍频信号的频率与第四拍频信号的频率中较高的一个,所述第四频率为所述第三拍频信号的频率与所述第四拍频信号的频率中较低的一个,所述第三拍频信号为所述第二下扫本振信号与所述第二下扫回波信号的拍频信号,所述第四拍频信号为所述第二上扫本振信号与所述第二上扫回波信号的拍频信号;

根据所述第一频率、所述第二频率、所述第三频率、所述第四频率、第一斜率、第二斜率,以及,第一三角波信号和/或第二三角波信号的中心频率,确定所述目标物体相对于所述激光探测装置的距离与速度。

2.根据权利要求1所述的激光探测装置的探测方法,其特征在于,所述根据所述第一频率、所述第二频率、所述第三频率、所述第四频率、第一斜率、第二斜率,以及,第一三角波信号和/或第二三角波信号的中心频率,确定所述目标物体相对于所述激光探测装置的距离与速度的步骤,包括:

判断所述第一频率与所述第三频率的大小关系;

若所述第一频率大于所述第三频率,则确定所述第一频率为第一预设频率,所述第二频率为第二预设频率,所述第三频率为第三预设频率,所述第四频率为第四预设频率,若所述第一频率小于所述第三频率,则确定所述第三频率为第一预设频率,所述第四频率为第二预设频率,所述第一频率为第三预设频率,所述第二频率为第四预设频率;以及

根据相关参数,确定所述目标物体相对于所述激光探测装置的距离与速度,其中,所述相关参数包括:所述第一预设频率、所述第二预设频率、所述第三预设频率、所述第四预设频率、所述第一斜率、所述第二斜率,以及,所述第一三角波信号和/或所述第二三角波信号的中心频率。

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