[发明专利]芯片精度测试平台、单电流测试方法及芯片精度测试方法

说明书

本发明提供一种芯片精度测试平台、单电流测试方法及芯片精度测试方法。所述芯片精度测试平台用于测试芯片及芯片阵列包括：电流源，所述电流源能够与所述芯片连接，用于向所述芯片提供电流；电压源，所述电压源能够与所述芯片连接，用于向所述芯片提供电源电压；温箱，所述温箱内设置待测的芯片，所述温箱温度可调以改变所述芯片的环境温度，用于实现所述芯片的环境温度调节；数据采集装置，用于选择性的采集所述芯片的输出信号；工控机，所述工控机用于控制所述电流源、电压源、温箱、以及数据采集装置。本发明提供一种芯片精度测试平台及芯片精度测试方法，实现对不同型号芯片精度的测试。

技术领域

本发明涉及半导体领域，尤其涉及一种芯片精度测试平台、单电流测试方法及芯片精度测试方法。

背景技术

电流传感器芯片在生活中有着广泛的应用，如智能控制、传感检测、传感采样、家用电器、计算机等领域。电流传感器芯片精度的校验有着非常重要的意义。如何便捷的实现对不同型号芯片精度的测试，是本领域技术人员亟待解决的问题。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是实现对不同型号芯片精度的测试，提供一种芯片精度测试平台、单电流测试方法及芯片精度测试方法。

为了解决上述问题，本发明提供了一种芯片精度测试平台，用于测试芯片及芯片阵列包括：电流源，所述电流源能够与所述芯片连接，用于向所述芯片提供电流；电压源，所述电压源能够与所述芯片连接，用于向所述芯片提供电源电压；温箱，所述温箱内设置待测的芯片，所述温箱温度可调以改变所述芯片的环境温度，用于实现所述芯片的环境温度调节；数据采集装置，用于选择性的采集所述芯片的输出信号；工控机，所述工控机用于控制所述电流源、电压源、温箱、以及数据采集装置。

本发明提供了一种单电流测试方法，其包括如下步骤：(a)设置芯片为预定温度；(b)将电压源设定为设定值，向芯片提供电源电压；(c)读取电压源的实际输出值；(d)将所述实际输出值与所述设定值对比，若偏差值小于或等于许可偏差值，则使电流源按给定原边电流值向芯片提供电流，电压源持续工作；(e)等待设定时间，至电流源输出的电流稳定；(f)多次读取芯片的输出电压值，并获得多个所述输出电压值的平均值；(g)设置多个预定温度循环进行步骤(a)～(e)测试；(h)将相同预定温度下得到的芯片的输出电压值的平均值再次取平均值，作为该预定温度下的芯片的输出电压值的标准值。

为了解决上述问题，本发明提供了一种芯片精度测试方法，其包括如下步骤：提供给定原边电流值，采用上述的单电流测试方法，获得所述给定原边电流值对应的芯片输出电压值的标准值；所述给定原边电流值采用-IP、-IP/2、0、IP/2、IP依次执行单电流测试，完成全自动测试流程，其中，IP为原边电流值；从测试数据中提取理想输出电压值、实际输出电压值、传感系数、以及原边电流值，运算并得出总精度误差。

本发明提供一种芯片精度测试平台及芯片精度测试方法，实现对不同型号芯片精度的测试。

附图说明

附图1所示为本发明一具体实施方式所述芯片精度测试平台示意图。

附图2所示为本发明一具体实施方式所述单电流测试方法流程图。

附图3所示为本发明一具体实施方式所述芯片精度测试方法步骤示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本发明提供的芯片精度测试平台、单电流测试方法及芯片精度测试方法的具体实施方式做详细说明。