[发明专利]产品开发测试方法、装置、设备和存储介质

权利要求书

1.一种产品开发测试方法，其特征在于，应用于产品测试平台，所述方法包括：

在对产品进行开发测试之前，获取所述产品的第一测试分析数据；

根据所述第一测试分析数据确定是否启动所述产品的开发测试；

在对所述产品进行开发测试时，获取第二测试分析数据；

根据所述第二测试分析数据确定是否启动所述产品的开发测试中的领域测试。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第一测试分析数据至少包括以下至少一项：

所述产品的中央处理器的可测性分析报告；

所述产品的主板所有第一次应用的芯片和第一次应用的线路；

所述产品在开发测试的各个测试阶段的测试周期时长；其中，所述测试周期时长为根据各个所述测试阶段的工作量分析和样机数量分析后确定；

所述产品在各个测试阶段的退出标准；其中，所述退出标准为根据所述产品的中央处理器特性、内存特性、VR芯片特性确定。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述测试阶段包括EVT测试阶段、DVT测试阶段和PVT测试阶段，所述测试阶段中包括有领域测试。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，

所述EVT测试阶段的退出标准，至少包括所述产品的中央处理器满足不宕机、支持至少1款内存和所述产品的主板没有超过指定严重程度的故障的条件；

所述DVT测试阶段的退出标准，至少包括所述产品的中央处理器满足无1/10000概率宕机、支持至少2个厂家的内存以及主板无硬件改板需求的条件。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二测试分析数据至少包括以下至少一项：

所述产品的开发测试中SIV领域测试和PIV领域测试中提供最差的信号链路、最长的供电链路、最差的背板槽位和最长的供电背板槽位；

所述产品的开发测试中SIV领域测试通过；

所述产品的功耗最高的硬盘、容量最大的硬盘、容量最大的内存条、容量最大的固态硬盘M.2和功耗最高的网卡；

所述产品的部件的固件全部更新到最新的版本；

所述产品的内存的RMT测试完成并通过；

所述产品的部件的margen测试完成并通过；

所述产品的操作系统OS、驱动和RMP测试最新；

所述产品的开发测试中的测试领域没有出现超过指定严重程度的故障。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述开发测试中的领域测试的测试顺序允许进行调整。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述产品至少包括集中式存储、服务器和交换机。

8.一种产品开发测试装置，其特征在于，应用于产品测试平台，所述装置包括：

第一数据获取模块，用于在对产品进行开发测试之前，获取所述产品的第一测试分析数据；

第一测试启动模块，用于根据所述第一测试分析数据确定是否启动所述产品的开发测试；

第二数据获取模块，用于在对所述产品进行开发测试时，获取第二测试分析数据；

第二测试启动模块，用于根据所述第二测试分析数据确定是否启动所述产品的开发测试中的领域测试。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：处理器；和

存储器，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被执行时，使得所述处理器执行如权利要求1-7中一个或多个所述的产品开发测试方法。

10.一个或多个机器可读介质，其上存储有可执行代码，当所述可执行代码被执行时，使得处理器执行如权利要求1-7中一个或多个所述的产品开发测试方法。