[发明专利]定位装置及光学系统测试设备

说明书

本发明公开了一种定位装置及光学系统测试设备，其属于光学测试技术领域，定位装置包括承载平台、固定块、滑动块和锁紧组件，承载平台具有参考平面，参考平面上设置有若干条刻度线；固定块与承载平台固定连接，固定块具有第一定位面，第一定位面与一条刻度线对齐；滑动块与承载平台滑动连接，滑动块具有第二定位面，第二定位面能够与另一条刻度线对齐，待定位件能够夹设于第一定位面与第二定位面之间；锁紧组件与滑动块连接，锁紧组件能够被按压和释放以选择性锁紧滑动块与承载平台。光学系统测试设备包括如上所述的定位装置。在定位过程中，只需移动和锁紧滑动块，减少定位时间，且有刻度线做参考，提高定位精度的同时能够保护待定位件。

技术领域

本发明涉及光学测试技术领域，涉及一种定位装置及光学系统测试设备。

背景技术

在光学检测领域，尤其是对于一些将应用于重要的生产或生活场合的光学系统，为评判其合格与否，需对一些关键指标进行逐一测试。而这类光学系统往往是批量生产的，因此具有待检产品数量多、检测方案类似的特点。

光学芯片是用来完成光电信号转换的，相当于信息中转站，它在移动设备上属于一个核心设备。在光学芯片生产的过程中，在出厂之前需要对光学芯片进行测试，以保证其质量合格能够真正工作，避免给消费者带来不好的体验感。光学芯片往往是批量生产的，因此具有待检产品数量多、检测方案类似的特点。

现有的光学芯片测试的时候，参见图1，大多数都是通过人工将光学芯片10＇置于检测平台20＇上，再通过几个定位片30＇夹紧光学芯片10＇，定位片30＇与检测平台20＇之间通过螺栓40＇锁紧固定。上述定位方式，每检测完一个光学芯片10＇，需要手动旋松螺栓40＇，更换另一个光学芯片10＇之后，再旋紧螺栓40＇，定位时间长；光学芯片10＇易夹伤：拧紧螺栓40＇的过程中，定位片30＇会轻微移动，需要不断调整，过程中有夹伤光学芯片10＇的风险；固定过紧会导致光学芯片10＇夹伤或者卡死，固定过松会导致定位存在误差，定位精度难以保证。

发明内容

本发明的目的在于提供一种定位装置及光学系统测试设备，以减少定位时间，提高定位精度，保护待定位件。

如上构思，本发明所采用的技术方案是：

一种定位装置，包括：

承载平台，具有参考平面，所述参考平面上设置有若干条刻度线；

固定块，与所述承载平台固定连接，所述固定块具有第一定位面，所述第一定位面与一条所述刻度线对齐；

滑动块，与所述承载平台滑动连接，所述滑动块具有第二定位面，所述第二定位面能够与另一条所述刻度线对齐，待定位件能够夹设于所述第一定位面与所述第二定位面之间；

锁紧组件，与所述滑动块连接，所述锁紧组件能够被按压和释放以选择性锁紧所述滑动块与所述承载平台。

其中，所述承载平台包括平台本体和固定于所述平台本上的导轨，所述导轨上设置有若干条主刻度线形成主尺，所述滑动块上设置有若干条副刻度线形成游标尺，所述游标尺与所述主尺滑动连接形成游标卡尺。

其中，所述第一定位面与所述主刻度线的零刻度对齐。

其中，所述锁紧组件包括按压件和锁紧件，所述按压件与所述滑动块弹性连接，所述锁紧件与所述滑动块转动连接，在所述按压件的一端被按压时，所述按压件的另一端抵压所述锁紧件的一端，以使所述锁紧件的另一端与所述导轨锁紧。

其中，所述锁紧件与所述导轨卡接或者磁吸连接。

其中，所述按压件包括按压头、与所述按压头连接的按压杆和套设于按压杆的保护套，所述按压杆远离所述按压头的一端设置若干个弹片，所述保护套与所述滑动块固定连接，所述按压杆与所述保护套弹性连接，所述按压杆能够在第一位置和第二位置之间移动。