[发明专利]定位装置及光学系统测试设备

权利要求书

1.定位装置，其特征在于，包括：

承载平台(10)，具有参考平面，所述参考平面上设置有若干条刻度线；

固定块(20)，与所述承载平台(10)固定连接，所述固定块(20)具有第一定位面(201)，所述第一定位面(201)与一条所述刻度线对齐；

滑动块(30)，与所述承载平台(10)滑动连接，所述滑动块(30)具有第二定位面(301)，所述第二定位面(301)能够与另一条所述刻度线对齐，待定位件能够夹设于所述第一定位面(201)与所述第二定位面(301)之间；

锁紧组件(40)，与所述滑动块(30)连接，所述锁紧组件(40)能够被按压和释放以选择性锁紧所述滑动块(30)与所述承载平台(10)。

2.根据权利要求1所述的定位装置，其特征在于，所述承载平台(10)包括平台本体(11)和固定于所述平台本上的导轨(12)，所述导轨(12)上设置有若干条主刻度线形成主尺，所述滑动块(30)上设置有若干条副刻度线形成游标尺，所述游标尺与所述主尺滑动连接形成游标卡尺。

3.根据权利要求2所述的定位装置，其特征在于，所述第一定位面(201)与所述主刻度线的零刻度对齐。

4.根据权利要求2所述的定位装置，其特征在于，所述锁紧组件(40)包括按压件(41)和锁紧件(42)，所述按压件(41)与所述滑动块(30)弹性连接，所述锁紧件(42)与所述滑动块(30)转动连接，在所述按压件(41)的一端被按压时，所述按压件(41)的另一端抵压所述锁紧件(42)的一端，以使所述锁紧件(42)的另一端与所述导轨(12)锁紧。

5.根据权利要求4所述的定位装置，其特征在于，所述锁紧件(42)与所述导轨(12)卡接或者磁吸连接。

6.根据权利要求4所述的定位装置，其特征在于，所述按压件(41)包括按压头(411)、与所述按压头(411)连接的按压杆(412)和套设于按压杆(412)的保护套(413)，所述按压杆(412)远离所述按压头(411)的一端设置若干个弹片(414)，所述保护套(413)与所述滑动块(30)固定连接，所述按压杆(412)与所述保护套(413)弹性连接，所述按压杆(412)能够在第一位置和第二位置之间移动。

7.根据权利要求6所述的定位装置，其特征在于，所述按压杆(412)的外壁上设置有第一定位凸起(4121)，所述保护套(413)的内壁上设置有第二定位凸起(4131)，所述第二定位凸起(4131)围设成定位槽，所述第一定位凸起(4121)能够穿过所述定位槽并与所述第二定位凸起(4131)抵接。

8.根据权利要求1所述的定位装置，其特征在于，所述锁紧组件(40)包括按压件(41)，所述按压件(41)包括按压头(411)和与按压头(411)连接的按压杆(412)，所述按压杆(412)远离所述按压头(411)的一端设置有第一锁紧凸起(4122)，所述承载平台(10)上设置有第二锁紧凸起(111)，所述第二锁紧凸起(111)围设成锁紧槽(112)，所述第一锁紧凸起(4122)能够穿过所述锁紧槽(112)并与所述第二锁紧凸起(111)抵接。

9.根据权利要求1-8任一项所述的定位装置，其特征在于，还包括定位块(50)，所述定位块(50)与所述承载平台(10)固定连接，所述定位块(50)具有第三定位面，所述第三定位面与所述第一定位面(201)垂直，所述待定位件能够抵接所述第三定位面。

10.光学系统测试设备，其特征在于，包括权利要求1-9任一项所述的定位装置。