[发明专利]一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法

权利要求书

1.一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：具体步骤如下：

S1.选择陶瓷测针；

S2.新建编程项目；

S3.设定工艺参数；

S4.检查测球轨迹，初次生成扫描路径；

S5.分析干涉原因，将干涉部位调整为双方向扫描策略计算扫描轨迹；

S6.将整体叶环固定于专用工装中进行装夹测量。

2.根据权利要求1所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：步骤S1中，根据叶型测量精度，选择符合要求的五轴联动测量机，根据零件基准特点、首尾被测截面的高度以及叶型叶根转接圆角大小，选择合适的陶瓷测针。

3.根据权利要求1所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：步骤S2中，新建编程项目，将整体叶环图纸模型导入到编程软件，调整电脑上的零件姿态，使其轴向平行于测量机Y向，设定基准孔，位于3点钟方向；根据整体叶环中叶型结构特点，包括被测截面高度要求、叶片间空间、叶根转接圆角大小，选择编程参数。

4.根据权利要求1所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：步骤S3中，根据叶片间的空间大小以及叶型截面间进气角度变化范围，设置不同的测量区域数量，使整个叶型测量面积最大，从而保证测得更多的截面；根据被测首尾截面距离内外流道的大小，选择合适长度的滑扫测杆，初次设置扫描速度、避让距离、安全距离以及测针倾角等工艺参数。

5.根据权利要求1所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：步骤S4中，根据步骤S3初次设置生成扫描路径，对叶盆、叶背采用横向扫描策略、对进排气边缘采用纵向扫描策略；在软件中检查测球轨迹是否涵盖叶型首尾被测截面，如未涵盖，则调整叶根、叶尖的避让距离，重新生成扫描轨迹，直到完全涵盖首尾被测截面。

6.根据权利要求1所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：步骤S5中，计算扫描轨迹，如果轨迹中都是黑色实心球，则代表没有轨迹干涉，按照步骤S4的扫描路径执行；如果轨迹中有黑色空心球部分，则代表此处有轨迹干涉；分析干涉原因有二：一是对于进排气边缘，通常单方向扫描会在结尾处、测杆与流道端面干涉；二是对于叶盆叶背，通常在扫描到中间部分，测杆会与相邻的叶片干涉碰撞。

7.根据权利要求6所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：由步骤5分析的原因，对干涉部位调整扫描策略：对进排气边缘采用分段双方向扫描；现将边缘分为两段，然后改变其扫描方向，同时调整避让距离、安全距离以及测针倾角，直到轨迹仿真通过；同样对叶盆、叶背采用双方向扫描策略，同时调整避让距离、安全距离以及测针倾角，直到生成不干涉轨迹，再进行程序运行模拟仿真，检查无误后输出测量程序语句。

8.根据权利要求1所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：步骤S6中，将整体叶环固定于专用工装中，联机运行测量坐标系建立程序，导入上述步骤5中生成的整体叶环型面程序，根据测量结果质量，重复步骤3、步骤4、步骤5，直到无边缘震动出现锯齿状态的情况产生，保存测量程序，并重新测量叶片。

9.根据权利要求8所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：所述专用工装，包括底板、立板、V型自定心结构、锁紧结构；所述V型自定心结构，包括V型板、沉槽螺纹孔；所述锁紧结构，包含锁紧压板、滑槽、弹簧、螺纹孔、调节支撑杆；底板与立板两两垂直，并采用螺栓连接；V型板与立板采用螺栓连接，且V型板装夹面与立板斜面保持平行；锁紧压板与立板采用带弹簧的螺杆连接，调节支撑杆与立板采用螺杆连接，并且调节支撑杆端与锁紧压板滑槽间隙配合。

10.根据权利要求8所述的一种高压闭式整体叶环叶型坐标测量方法，其特征在于：将所述整体叶环外缘板凹槽环面与夹具V型板接触，使零件转动时自动定心，调整锁紧压板的位置，使其与整体叶环内缘板端面压紧，并且使整体叶环的三个基准特征，包括平面、圆柱以及孔不与夹具接触，便于采集测量基准特征点，调整整体叶环基准孔的位置，使其处于三点钟方向，与步骤S2中仿真环境中的位置一致。