[发明专利]一种基于单分类张量超圆盘的电机故障检测方法在审

专利信息
申请号: 202211344367.6 申请日: 2022-10-31
公开(公告)号: CN115629312A 公开(公告)日: 2023-01-20
发明(设计)人: 何知义;曾雨婷;徐晓强 申请(专利权)人: 长沙理工大学
主分类号: G01R31/34 分类号: G01R31/34;G06F18/213;G06F18/24
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 410114 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 分类 张量 圆盘 电机 故障 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于单分类张量超圆盘的电机故障检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

步骤1:获取电机在不同健康状态下的多源信号,并建立原始信号样本集;

步骤2:从基于小波数据包分解的多源信号中提取特征张量;

步骤3:用电机正常状态下的特征张量对单分类张量超圆盘模型进行训练,得到其决策函数;

步骤4:使用训练过的单分类张量超圆盘来检测待检测的样本;

步骤5:输出检测结果。

2.根据权利要求1所述的一种基于单分类张量超圆盘的电机故障检测方法,其特征在于,所述步骤2中,提取基于小波包分解的多源信号的特征张量的步骤如下:对于每个样本7个信号(M=7)分解,如下:

X=[x1,x2,…,xM]T∈RM×N

其中,X为样本,每个信号xi有N=2048个点;

通过小波包变换将xi分解为具有不同频带的P分量,如下:

p=2J

其中,J为分解级;

对于提取时域统计参数和频域统计参数的特征,分别从每个分量中计算,共有H=22个统计参数,时域统计参数为:平均值,均方根,平方根振幅,平均振幅,最大峰值,标准差,偏度,峰度,峰值因子,裕度指标,形状因子,为脉冲因子;

频域统计参数为:谱幅平均值,光谱振幅标准差,光谱重力频率,振幅谱峰度,谱均方根频率,谱根4/2矩比,光谱标准差频率,谱频偏度,光谱频率峰态;

对提取的统计特征,按频-特征参数-传感器三阶张量进行张量表示:

其中,F为多源信号的特征变换为的三阶特征张量,具有不同频带、统计特征和不同传感器通道的分量作为三阶张量的模态,其中I1=P,I2=H,I3=M。

3.根据权利要求1所述的一种基于单分类张量超磁盘的电机故障检测方法,其特征在于,所述步骤3中决策函数的计算具体包括如下步骤:

对于由l个张量样本组成的张量样本集合定义张量超圆盘几何边界:

其中,αi是张量样本的组合系数

对于原点与张量超圆盘之间的最近邻点,转化为下式所示的最小模量优化问题:

对于求解优化问题的约束条件中的中心S和半径r,并转换为如下式二次规划问题:

对于上式所示优化问题,引入非负拉格朗日乘子βi,i=1,2,…,l构造相应拉格朗日函数:

根据KKT条件,得到下式中r和S的偏导数,并分别设为零:

二次规划优化问题的对偶性表示为:

对于对偶等式中的张量内积计算问题,采用CP分解对原始张量进行分解,张量内积可表示为:

优化问题转化为:

对于上述优化问题,采用标准算法得到最优解为中心S和半径r可表示为:

将得到的中心S和半径r替换为二次规划的优化问题,优化问题转化为:

进一步扩展了优化问题中的约束条件为:

对于上式中的张量内积计算问题,使用张量内积公式代替,优化问题进一步转化为:

利用优化问题的最优解,设最优解为对应的最近邻点为计算出最优超平面的权值张量和偏差b*

单分类张量超圆盘的决策函数可以表示为:

单分类张量超圆盘的检测输出结果表示为:

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长沙理工大学,未经长沙理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/202211344367.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top