[发明专利]一种基于单分类张量超圆盘的电机故障检测方法在审
| 申请号: | 202211344367.6 | 申请日: | 2022-10-31 |
| 公开(公告)号: | CN115629312A | 公开(公告)日: | 2023-01-20 |
| 发明(设计)人: | 何知义;曾雨婷;徐晓强 | 申请(专利权)人: | 长沙理工大学 |
| 主分类号: | G01R31/34 | 分类号: | G01R31/34;G06F18/213;G06F18/24 |
| 代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
| 地址: | 410114 湖南省*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 基于 分类 张量 圆盘 电机 故障 检测 方法 | ||
1.一种基于单分类张量超圆盘的电机故障检测方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:获取电机在不同健康状态下的多源信号,并建立原始信号样本集;
步骤2:从基于小波数据包分解的多源信号中提取特征张量;
步骤3:用电机正常状态下的特征张量对单分类张量超圆盘模型进行训练,得到其决策函数;
步骤4:使用训练过的单分类张量超圆盘来检测待检测的样本;
步骤5:输出检测结果。
2.根据权利要求1所述的一种基于单分类张量超圆盘的电机故障检测方法,其特征在于,所述步骤2中,提取基于小波包分解的多源信号的特征张量的步骤如下:对于每个样本7个信号(M=7)分解,如下:
X=[x1,x2,…,xM]T∈RM×N
其中,X为样本,每个信号xi有N=2048个点;
通过小波包变换将xi分解为具有不同频带的P分量,如下:
p=2J
其中,J为分解级;
对于提取时域统计参数和频域统计参数的特征,分别从每个分量中计算,共有H=22个统计参数,时域统计参数为:平均值,均方根,平方根振幅,平均振幅,最大峰值,标准差,偏度,峰度,峰值因子,裕度指标,形状因子,为脉冲因子;
频域统计参数为:谱幅平均值,光谱振幅标准差,光谱重力频率,振幅谱峰度,谱均方根频率,谱根4/2矩比,光谱标准差频率,谱频偏度,光谱频率峰态;
对提取的统计特征,按频-特征参数-传感器三阶张量进行张量表示:
其中,F为多源信号的特征变换为的三阶特征张量,具有不同频带、统计特征和不同传感器通道的分量作为三阶张量的模态,其中I1=P,I2=H,I3=M。
3.根据权利要求1所述的一种基于单分类张量超磁盘的电机故障检测方法,其特征在于,所述步骤3中决策函数的计算具体包括如下步骤:
对于由l个张量样本组成的张量样本集合定义张量超圆盘几何边界:
其中,αi是张量样本的组合系数
对于原点与张量超圆盘之间的最近邻点,转化为下式所示的最小模量优化问题:
对于求解优化问题的约束条件中的中心S和半径r,并转换为如下式二次规划问题:
对于上式所示优化问题,引入非负拉格朗日乘子βi,i=1,2,…,l构造相应拉格朗日函数:
根据KKT条件,得到下式中r和S的偏导数,并分别设为零:
二次规划优化问题的对偶性表示为:
对于对偶等式中的张量内积计算问题,采用CP分解对原始张量进行分解,张量内积可表示为:
优化问题转化为:
对于上述优化问题,采用标准算法得到最优解为中心S和半径r可表示为:
将得到的中心S和半径r替换为二次规划的优化问题,优化问题转化为:
进一步扩展了优化问题中的约束条件为:
对于上式中的张量内积计算问题,使用张量内积公式代替,优化问题进一步转化为:
利用优化问题的最优解,设最优解为对应的最近邻点为计算出最优超平面的权值张量和偏差b*:
单分类张量超圆盘的决策函数可以表示为:
单分类张量超圆盘的检测输出结果表示为:
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