[发明专利]发光二极管测试电路、印刷电路板、显示模组及显示面板

说明书

本申请涉及一种发光二极管测试电路、驱动芯片、显示模组及显示面板。该发光二极管测试电路包括：多个第一导电元件，各第一导电元件用于与待测显示模组上的各发光二极管的阳极对应连接；多个第二导电元件，各第二导电元件用于与待测显示模组上的各发光二极管的阴极对应连接；第一导电测试元件，分别与各第一导电元件连接，用于接收外部测试设备提供的第一驱动电压；第二导电测试元件，分别与各第二导电元件连接，用于接收外部测试设备提供的第二驱动电压，其中，第一驱动电压大于第二驱动电压。采用上述发光二极管测试电路，可以降低检测设备的顶针数量，进而降低检测成本。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种发光二极管测试电路、印刷电路板、显示模组及显示面板。

背景技术

目前，在进行巨量转移后，主要采用顶针顶在与发光二极管(LED)连接的发光二极管驱动芯片的焊盘上，由顶针输入驱动电压给每个焊盘，进而通过焊盘输入驱动电压点亮每个LED以检测巨量转移是否成功。

但是由于焊盘数量较多且尺寸较小，顶针需非常细且多，且顶针的精准度需求很高，因此，电测治具较为昂贵，导致检测成本高。另外，随着电测治具使用时间的增长，顶针针头易出现磨损，容易造成顶针对位精准度下降，进而导致测试失败。

发明内容

基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种有利于降低检测成本和提高检测精准度的发光二极管测试电路、印刷电路板、显示模组、显示面板、显示装置、检测装置和印刷电路板的制造方法。

第一方面，本申请提供一种发光二极管测试电路，包括：

多个第一导电元件，各所述第一导电元件用于与待测显示模组上的各发光二极管的阳极对应连接；

多个第二导电元件，各所述第二导电元件用于与所述待测显示模组上的各发光二极管的阴极对应连接；

第一导电测试元件，分别与各所述第一导电元件连接，用于接收外部测试设备提供的第一驱动电压；

第二导电测试元件，分别与各所述第二导电元件连接，用于接收外部测试设备提供的第二驱动电压，其中，所述第一驱动电压大于所述第二驱动电压。

上述发光二极管测试电路，通过第一导电测试元件分别与各第一导电元件连接，第二导电测试元件分别与各第二导电元件连接，使得在检测巨量转移是否成功时，只需通过两个顶针分别与第一导电测试元件、第二导电测试元件连接，并分别输出第一驱动电压和第二驱动电压即可，顶针数量无需和焊盘数量相对应，从而有利于降低检测设备的顶针数量，进而降低检测成本。另外，第一导电测试元件和第二导电测试元件的面积可以较大，对应地，两个顶针的尺寸也可以相对较大，则顶针针头不易磨损，有利于提高外部测试设备的使用寿命，且对于顶针的对位精度要求较低，顶针易于对位，有利于提高检测成功率。

在一个实施例中，所述发光二极管测试电路还包括：

多个第一开关元件，每一所述第一开关元件在所述第一开关元件的控制端接收到高电平信号时处于导通状态，各所述第一开关元件的第一端与所述第一导电测试元件连接，各所述第一开关元件的第二端与各所述第一导电元件一一对应连接；

多个第二开关元件，每一所述第二开关元件在所述第二开关元件的控制端接收到高电平信号时处于导通状态，各所述第二开关元件的第一端与各所述第二导电元件一一对应连接，各所述第二开关元件的第二端与所述第二导电测试元件连接。