[发明专利]发光二极管测试电路、印刷电路板、显示模组及显示面板在审

专利信息
申请号: 202211307095.2 申请日: 2022-10-24
公开(公告)号: CN115566129A 公开(公告)日: 2023-01-03
发明(设计)人: 李炫运 申请(专利权)人: 业成科技(成都)有限公司;业成光电(深圳)有限公司;业成光电(无锡)有限公司;英特盛科技股份有限公司
主分类号: H01L33/62 分类号: H01L33/62;H01L23/544;H05K1/18;H05K3/00
代理公司: 成都希盛知识产权代理有限公司 51226 代理人: 胡德平
地址: 611730 四川*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 发光二极管 测试 电路 印刷 电路板 显示 模组 面板
【权利要求书】:

1.一种发光二极管测试电路,其特征在于,包括:

多个第一导电元件,各所述第一导电元件用于与待测显示模组上的各发光二极管的阳极对应连接;

多个第二导电元件,各所述第二导电元件用于与所述待测显示模组上的各发光二极管的阴极对应连接;

第一导电测试元件,分别与各所述第一导电元件连接,用于接收外部测试设备提供的第一驱动电压;

第二导电测试元件,分别与各所述第二导电元件连接,用于接收外部测试设备提供的第二驱动电压,其中,所述第一驱动电压大于所述第二驱动电压。

2.根据权利要求1所述的发光二极管测试电路,其特征在于,所述发光二极管测试电路还包括:

多个第一开关元件,每一所述第一开关元件在所述第一开关元件的控制端接收到高电平信号时处于导通状态,各所述第一开关元件的第一端与所述第一导电测试元件连接,各所述第一开关元件的第二端与各所述第一导电元件一一对应连接;

多个第二开关元件,每一所述第二开关元件在所述第二开关元件的控制端接收到高电平信号时处于导通状态,各所述第二开关元件的第一端与各所述第二导电元件一一对应连接,各所述第二开关元件的第二端与所述第二导电测试元件连接。

3.根据权利要求2所述的发光二极管测试电路,其特征在于,所述第一开关元件的第一端与所述第一开关元件的控制端连接,所述第二开关元件的控制端与所述第一导电测试元件连接。

4.根据权利要求1至3任一项所述的发光二极管测试电路,其特征在于,所述发光二极管测试电路还包括:第一测试导线和第二测试导线;各所述第一导电元件分别经所述第一测试导线与所述第一导电测试元件连接;各所述第二导电元件分别经所述第二测试导线与所述第一导电测试元件连接。

5.根据权利要求4所述的发光二极管测试电路,其特征在于,所述发光二极管测试电路还包括接地电阻,所述接地电阻的第一端与所述第一测试导线连接,所述接地电阻的第二端用于接地。

6.一种印刷电路板,其特征在于,所述印刷电路板的背面设有如权利要求1至5任一项所述的发光二极管测试电路。

7.一种发光二极管显示模组,其特征在于,包括发光二极管驱动芯片、如权利要求6所述的印刷电路板和多个发光二极管,所述发光二极管驱动芯片固定设于所述印刷电路板的背面,各所述发光二极管固定设于所述印刷电路板的正面,其中,各所述第一导电元件与各所述发光二极管的阳极对应连接,各所述第二导电元件与各所述发光二极管的阴极对应连接。

8.一种显示面板,包括如权利要求7所述的发光二极管显示模组。

9.一种检测装置,其特征在于,包括:

第一顶针,用于与如权利要求1至5任一项所述的发光二极管测试电路的第一导电测试元件连接,向所述第一导电测试元件提供第一驱动电压;

第二顶针,用于与如权利要求1至5任一项所述的发光二极管测试电路的第二导电测试元件连接,向所述第二导电测试元件提供第二驱动电压,其中,所述第一驱动电压大于所述第二驱动电压。

10.一种印刷电路板的制造方法,其特征在于,所述方法包括:

提供基底;

在所述基底上形成多个第一导电元件和多个第二导电元件,其中,所述第一导电元件的输出端用于与发光二极管的阳极连接,所述第二导电元件的输入端用于与所述发光二极管的阴极连接;

在所述基底露出的表面形成第一导电测试元件和第二导电测试元件;

在所述第一导电测试元件与各所述第一导电元件之间形成第一导电线路,所述第一导电线路连接所述第一导电测试元件与各所述第一导电元件,在所述第二导电测试元件与第二导电元件之间形成第二导电线路,所述第二导电线路连接所述第一导电测试元件与各所述第一导电元件。

11.根据权利要求10所述的印刷电路板的制造方法,其特征在于,所述第一导电线路包括第一测试导线,各所述第一导电元件分别经所述第一测试导线与所述第一导电测试元件连接;所述第二导电线路包括第二测试导线,各所述第二导电元件分别经所述第二测试导线与所述第一导电测试元件连接;所述方法还包括:

在各所述第一导电元件与所述第一测试导线之间一一对应地形成第一开关元件,其中,每一所述第一开关元件在所述第一开关元件的控制端接收到高电平信号时处于导通状态,各所述第一开关元件的第一端与所述第一导电测试元件连接,各所述第一开关元件的第二端与各所述第一导电元件一一对应连接;

在各所述第二导电元件与所述第二测试导线之间一一对应地形成第二开关元件,每一所述第二开关元件在所述第二开关元件的控制端接收到高电平信号时处于导通状态,各所述第二开关元件的第一端与各所述第二导电元件一一对应连接,各所述第二开关元件的第二端与所述第二导电测试元件连接。

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